隨著集成電路技術(shù)迅速發(fā)展,集成電路工藝尺寸日益縮小,設(shè)計(jì)復(fù)雜度不斷提高,集成電路測(cè)試與驗(yàn)證設(shè)計(jì)的重要性愈發(fā)突出。目前,芯片測(cè)試與驗(yàn)證的投入約占據(jù)芯片設(shè)計(jì)總投入的70%,從事測(cè)試與驗(yàn)證的人員是設(shè)計(jì)人員的2倍,設(shè)計(jì)方案完成之后測(cè)試平臺(tái)代碼約占設(shè)計(jì)代碼的80%。對(duì)芯片進(jìn)行驗(yàn)證目的是檢驗(yàn)芯片設(shè)計(jì)功能和時(shí)序是否符合設(shè)計(jì)要求；測(cè)試的目的是檢驗(yàn)芯片是否存在制造錯(cuò)誤。測(cè)試與驗(yàn)證的角色已經(jīng)打破了傳統(tǒng)的設(shè)計(jì)與生產(chǎn)之間的障礙,并且導(dǎo)致了設(shè)計(jì)與生產(chǎn)技術(shù)的不斷融合,例如針對(duì)時(shí)序電路測(cè)試所提出的全掃描設(shè)計(jì),針對(duì)存儲(chǔ)器測(cè)試所提出的內(nèi)建自測(cè)試設(shè)計(jì),針對(duì)芯片功能所提出的軟硬件協(xié)同仿真技術(shù)等等。為了控制芯片設(shè)計(jì)成本,如何高效的在設(shè)計(jì)中加入可測(cè)試性設(shè)計(jì),如何實(shí)現(xiàn)具有高覆蓋率的驗(yàn)證工作,縮短設(shè)計(jì)時(shí)間,成為數(shù)字集成電路實(shí)現(xiàn)的技術(shù)瓶頸之一。本論文在明確上述問(wèn)題的基礎(chǔ)上對(duì)亞微米數(shù)字集成電路的測(cè)試與驗(yàn)證技術(shù)進(jìn)行了深入研究,并將提出的方法在0.35um 1P4M CMOS工藝的稅控加油機(jī)控制芯片GVC中進(jìn)行了實(shí)現(xiàn)。最終芯片研發(fā)成功,通過(guò)專家技術(shù)鑒定。本文對(duì)稅控加油機(jī)控制芯片GVC進(jìn)行了簡(jiǎn)要介紹,主要包括芯片的應(yīng)用背景、功能和技術(shù)指標(biāo)等... 

【文章來(lái)源】：山東大學(xué)山東省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁(yè)數(shù)】：81 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

芯片測(cè)試過(guò)程框圖

并將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到稅控存儲(chǔ)器以及實(shí)時(shí)非易失性存儲(chǔ)器中。加油過(guò)程中，可利用鍵盤(pán)對(duì)加油量或加油價(jià)格進(jìn)行預(yù)置，并通過(guò)LCD顯示器顯示出來(lái)。系統(tǒng)整機(jī)實(shí)物圖如圖8所示。GVC芯片引腳圖如圖9所示。

DFT編譯結(jié)果

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]基于單片機(jī)的邊界掃描實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[J]. 崔偉,馮長(zhǎng)江,丁國(guó)寶.  計(jì)算機(jī)測(cè)量與控制. 2009(08)
[2]超大規(guī)模集成電路測(cè)試技術(shù)[J]. 朱莉,林其偉.  中國(guó)測(cè)試技術(shù). 2006(06)
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碩士論文
[1]基于51IP核SoC的設(shè)計(jì)與應(yīng)用[D]. 宗振興.山東大學(xué) 2008
[2]基于March C+算法的MBIST設(shè)計(jì)[D]. 鄧吉建.貴州大學(xué) 2008
[3]稅控燃油加油機(jī)控制器的FPGA實(shí)現(xiàn)[D]. 鄭杰.山東大學(xué) 2008



本文編號(hào)：3398823