隨著可編程器件（PLD）的應(yīng)用越來越廣泛,可編程器件的測試技術(shù)也越來越受到重視,很多的單位和個人加入到芯片測試這一領(lǐng)域,有力地推動了芯片測試技術(shù)的發(fā)展。由于可編程器件的電路規(guī)模大、結(jié)構(gòu)復(fù)雜,高覆蓋率的自動化測試一直是可編程器件設(shè)計與生產(chǎn)上的難點,同時測試一種可編程器件結(jié)構(gòu)需要大量的時間設(shè)計測試方案,測試成本較高。目前國內(nèi)外針對不同場合的PLD測試系統(tǒng)的研究取得了很多成果,實現(xiàn)了大量可以實用的測試系統(tǒng),這些測試系統(tǒng)大致可以分為兩大類：首先是基于自主研制的測試系統(tǒng),一般由上位機軟件、通信電纜、控制電路以及待測PLD組成；其次是基于自動化測試設(shè)備（Automatic Test Equipment, ATE）的測試系統(tǒng),使用ATE平臺研發(fā)的測試系統(tǒng)則由ATE來完成自主研制測試系統(tǒng)中上位機軟件和控制電路的功能,只需ATE和待測PLD即可完成測試。ATE可以一次完成待測PLD的多次配置與測試,從而減少了人工操作,提高了PLD的測試效率,便于實現(xiàn)PLD的制造測試�；贏TE的測試平臺,效率高,功能強大,但是ATE高昂的價格不是一般單位和個人所能承受的,因此本文所研究的是一款屬于自主研制的測試系統(tǒng)。本... 

【文章來源】：長江大學(xué)湖北省

【文章頁數(shù)】：73 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
Abstract
第1章 緒論
    1.1 課題背景及意義
    1.2 國內(nèi)外研究動態(tài)
    1.3 主要工作及內(nèi)容安排
第2章 測試系統(tǒng)總體方案設(shè)計
    2.1 測試系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)概述
    2.2 測試的基本原理
    2.3 通信接口及上位機軟件選擇
    2.4 本章小結(jié)
第3章 系統(tǒng)硬件設(shè)計
    3.1 IspLsi1032測試板主控部分設(shè)計
    3.2 IspLsi1032測試板被測部分設(shè)計
    3.3 本章小結(jié)
第4章 系統(tǒng)軟件設(shè)計
    4.1 可編程邏輯器件設(shè)計語言
    4.2 可編程邏輯器件邏輯功能設(shè)計
    4.3 上位機軟件設(shè)計
    4.4 本章小結(jié)
第5章 IspLsi1032E測試系統(tǒng)的實現(xiàn)
    5.1 復(fù)雜的可編程邏輯器件CPLD
    5.2 CPLD器件IspLsi1032E
    5.3 測試內(nèi)容及基本流程
    5.4 測試步驟及算法分析
    5.5 本章小結(jié)
第6章 結(jié)論與展望
    6.1 工作結(jié)論
    6.2 工作展望
致謝
參考文獻
個人簡介
附錄
    附錄1 IspLsi1032E測試板部分原理圖
    附錄2 IspLsi1032E測試板


【參考文獻】：
期刊論文
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碩士論文
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[7]基于與或陣列結(jié)構(gòu)的可編程邏輯器件的可測性設(shè)計研究[D]. 劉杰.合肥工業(yè)大學(xué) 2004
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[9]FPGA聯(lián)線資源測試方法的研究[D]. 王海龍.哈爾濱工程大學(xué) 2003



本文編號：3231793