超大規(guī)模集成（Very Large-Scale Integrated,VLSI）電路技術(shù)是現(xiàn)代電子信息技術(shù)的重要組成部分,對(duì)科學(xué)技術(shù)、國(guó)民經(jīng)濟(jì)和國(guó)防建設(shè)的發(fā)展起著巨大的推動(dòng)作用。隨著深亞微米及納米工藝的應(yīng)用,芯片的集成度不斷提高,設(shè)計(jì)對(duì)輻射越來(lái)越敏感。因高能粒子轟擊而引發(fā)的軟錯(cuò)誤嚴(yán)重影響電路的可靠性。準(zhǔn)確評(píng)估軟錯(cuò)誤影響下邏輯電路的可靠性能有效指導(dǎo)容錯(cuò)設(shè)計(jì),是學(xué)術(shù)界和工業(yè)界共同關(guān)注的研究熱點(diǎn)。本文以受軟錯(cuò)誤影響的邏輯電路為研究對(duì)象,從可靠性的基本理論出發(fā),結(jié)合對(duì)信號(hào)概率和電路拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的分析,研究高效的組合邏輯電路和時(shí)序邏輯電路軟錯(cuò)誤可靠性評(píng)估方法。這些評(píng)估方法能用于準(zhǔn)確計(jì)算大規(guī)模甚至超大規(guī)模電路的可靠度,并能用于定位電路中對(duì)軟錯(cuò)誤敏感的邏輯單元。本文創(chuàng)新性的主要工作有:（1）針對(duì)概率門故障模型,提出了一種基于節(jié)點(diǎn)信號(hào)取值概率的組合邏輯電路軟錯(cuò)誤可靠度計(jì)算方法。通過(guò)計(jì)算在給定輸入向量的激勵(lì)下,組合電路從原始輸入至原始輸出所有節(jié)點(diǎn)信號(hào)的取值概率,并結(jié)合故障模擬,分析電路受軟錯(cuò)誤影響時(shí)的可靠性。相比使用概率轉(zhuǎn)移矩陣運(yùn)算和電路劃分的思想,本方法能夠簡(jiǎn)單快速而又準(zhǔn)確的計(jì)算組合電路在某個(gè)特定向量激勵(lì)... 

【文章來(lái)源】：湖南大學(xué)湖南省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁(yè)數(shù)】：111 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：博士

【部分圖文】：

單粒子翻轉(zhuǎn)

一般情況下，將存儲(chǔ)單元內(nèi)的軟錯(cuò)誤稱為單粒子翻轉(zhuǎn)（Ｓｉｎｇｌｅ?Ｅｖｅｎｔ?Ｕｐｓｅｔ，?ＳＥＵ），??而將邏輯電路內(nèi)的軟錯(cuò)誤當(dāng)成是單粒子瞬態(tài)（Ｓｉｎｇｌｅ?Ｅｖｅｎｔ?Ｔｒａｎｓｉｅｎｔ，?ＳＥＴ）。圖＇１．１??和圖１．２分別描述了單粒子翻轉(zhuǎn)和單粒子瞬態(tài)的情況。??商能粒子入射??１０?１０?１?１０?０??｜?，??１０?１０?１?＾０）?０?０??Ｉ?Ｉ?Ｉ?Ｉ?Ｉ?ｋ?ｙｌ?Ｉ?Ｉ??ＳＥＵ??圖１．１單粒子翻轉(zhuǎn)??高能粒子轟擊??〇＝＾＞－ｐｚＪ＞＾??圖１．２單粒子瞬態(tài)??－５－??

一般情況下，將存儲(chǔ)單元內(nèi)的軟錯(cuò)誤稱為單粒子翻轉(zhuǎn)（Ｓｉｎｇｌｅ?Ｅｖｅｎｔ?Ｕｐｓｅｔ，?ＳＥＵ），??而將邏輯電路內(nèi)的軟錯(cuò)誤當(dāng)成是單粒子瞬態(tài)（Ｓｉｎｇｌｅ?Ｅｖｅｎｔ?Ｔｒａｎｓｉｅｎｔ，?ＳＥＴ）。圖＇１．１??和圖１．２分別描述了單粒子翻轉(zhuǎn)和單粒子瞬態(tài)的情況。??商能粒子入射??１０?１０?１?１０?０??｜?，??１０?１０?１?＾０）?０?０??Ｉ?Ｉ?Ｉ?Ｉ?Ｉ?ｋ?ｙｌ?Ｉ?Ｉ??ＳＥＵ??圖１．１單粒子翻轉(zhuǎn)??高能粒子轟擊??〇＝＾＞－ｐｚＪ＞＾??圖１．２單粒子瞬態(tài)??－５－??

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]考慮信號(hào)相關(guān)性的邏輯電路可靠度計(jì)算方法[J]. 蔡爍,鄺繼順,劉鐵橋,王偉征.  電子學(xué)報(bào). 2014(08)
[2]基于差錯(cuò)傳播概率矩陣的時(shí)序電路軟錯(cuò)誤可靠性評(píng)估[J]. 蔡爍,鄺繼順,張亮,劉鐵橋,王偉征.  計(jì)算機(jī)學(xué)報(bào). 2015(05)
[3]一種基于迭代PTM模型的電路可靠性評(píng)估方法[J]. 肖杰,江建慧,朱旭光.  計(jì)算機(jī)學(xué)報(bào). 2014(07)
[4]一種高效的門級(jí)電路可靠度估算方法[J]. 蔡爍,鄺繼順,劉鐵橋,周穎波.  電子與信息學(xué)報(bào). 2013(05)
[5]基于時(shí)-空冗余的集成電路老化失效防護(hù)方法[J]. 嚴(yán)魯明,梁華國(guó),黃正峰.  電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào). 2013(01)
[6]基于概率轉(zhuǎn)移矩陣的時(shí)序電路可靠度估計(jì)方法[J]. 歐陽(yáng)城添,江建慧.  電子學(xué)報(bào). 2013(01)
[7]基于概率轉(zhuǎn)移矩陣的串行電路可靠度計(jì)算方法[J]. 王真,江建慧.  電子學(xué)報(bào). 2009(02)
[8]基于概率轉(zhuǎn)移矩陣的電路可靠性并行計(jì)算方法[J]. 王真,江建慧,沈君華,史哲文.  小型微型計(jì)算機(jī)系統(tǒng). 2008(02)

博士論文
[1]集成電路軟錯(cuò)誤問(wèn)題研究[D]. 丁潛.清華大學(xué) 2009
[2]多核微處理器容軟錯(cuò)誤設(shè)計(jì)關(guān)鍵技術(shù)研究[D]. 龔銳.國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué) 2008



本文編號(hào)：3107945