文章基于離散指數(shù)函數(shù)優(yōu)化的GM（1,1）模型,研究了該優(yōu)化后的模型在電子裝備系統(tǒng)故障預測中的應用,分析了基本GM（1,1）模型誤差產(chǎn)生的來源,對其位置偏差產(chǎn)生的非線性誤差進行了實驗研究。數(shù)據(jù)模擬和模型比較表明,優(yōu)化后的模型提高了背景值的精確性以及灰預測模型的擬合精度和預測精度,能夠很好地應用于電子裝備系統(tǒng)故障預測中。 

【文章來源】：無線互聯(lián)科技. 2018,15(07)

【文章頁數(shù)】：3 頁

【文章目錄】：
1 灰色GM (1, 1) 模型研究背景
2 GM (1, 1) 模型背景值最優(yōu)化
    2.1 GM (1, 1) 模型及誤差原因
    2.2 背景值的優(yōu)化
    2.3 利用最優(yōu)化的背景值建模
3 GM (1.1) 模型在電子設備故障預測中的應用
4 結語


【參考文獻】：
期刊論文
[1]灰色GM（1,1）模型在電子裝備壽命預測中的應用[J]. 賈占強,梁玉英.  火力與指揮控制. 2008(11)
[2]GM（1,1）模型的背景值構造方法和應用（Ⅱ）[J]. 譚冠軍.  系統(tǒng)工程理論與實踐. 2000(05)



本文編號：3494854