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基于貝葉斯混合概率分布融合的系統(tǒng)可靠性分析與預(yù)測(cè)方法

發(fā)布時(shí)間:2021-04-05 11:26
  針對(duì)一般系統(tǒng)可靠性分析與預(yù)測(cè)方法在處理多層次信息分布不均衡(multi-level&information imbalanced,MLII)系統(tǒng)時(shí)的一些局限性,提出了基于貝葉斯推理與信息提取融合的系統(tǒng)可靠性分析方法。該方法通過(guò)引入直接先驗(yàn)分布、間接先驗(yàn)分布與融合先驗(yàn)分布的方式,重構(gòu)了經(jīng)典貝葉斯推理算法。主要?jiǎng)?chuàng)新性包括提出了基于自更新權(quán)重系數(shù)的貝葉斯混合算法,該算法可充分利用底層單元的完備數(shù)據(jù),自下而上地補(bǔ)償頂層匱乏的信息,獲得較為準(zhǔn)確的系統(tǒng)可靠性分析與預(yù)測(cè)結(jié)果。將該方法應(yīng)用于具有MLII特點(diǎn)的復(fù)雜機(jī)電系統(tǒng),分析結(jié)果較傳統(tǒng)方法有更高的準(zhǔn)確性。 

【文章來(lái)源】:系統(tǒng)工程與電子技術(shù). 2018,40(07)北大核心EICSCD

【文章頁(yè)數(shù)】:9 頁(yè)

【部分圖文】:

基于貝葉斯混合概率分布融合的系統(tǒng)可靠性分析與預(yù)測(cè)方法


圖1MLII系統(tǒng)圖Fig.1GraphicaldescriptionofMLIIsystem

多層次結(jié)構(gòu)


?????????????????????表1經(jīng)典BM方法與自更新權(quán)重系數(shù)的BM方法的異同對(duì)比Table1ComparisonbetweenclassicalBMapproachandtheproposedone權(quán)重系數(shù)α經(jīng)典的BM方法自更新權(quán)重系數(shù)的BM方法變量性質(zhì)確定值隨機(jī)變量計(jì)算過(guò)程事先確定隨推理過(guò)程更新選取依據(jù)主觀信息主觀信息+客觀信息3MLII系統(tǒng)的BIEA方法第2節(jié)給出了基于自更新權(quán)重系數(shù)的BM方法的數(shù)理算法,下面結(jié)合圖4所示的多層次結(jié)構(gòu)來(lái)闡述MLII系統(tǒng)的BIEA模型。圖4多層次結(jié)構(gòu)系統(tǒng)Fig.4Multi-levelstructuresystem3.1MLII系統(tǒng)的BIEA模型不失一般性,以l行第k個(gè)單元E(l,kl)為研究對(duì)象,其參數(shù)集θ(l,kl)。那么第l+1行的父節(jié)點(diǎn)E(l+1,kl+1)則有參數(shù)集θ(l+1,kl+1)。給定其參數(shù)直接先驗(yàn)分布πD(θ(l+1,kl+1)),其可靠度函數(shù)可一般地描述為R(l+1,kl+1)(t)=f(t|θ(l+1,kl+1))。其中,f()是由具體物理背景及失效機(jī)理確定的函數(shù)。那么,研究對(duì)象的可靠度函數(shù)及對(duì)應(yīng)的參數(shù)概率密度函數(shù)的一般形式為R(l,kl)(t|θ(l,kl))=Ψ(l,kl)(R(l+1,kl+1)(t|θ(l+1,kl+1)):kl+1∈Q(l,kl))f(l,kl)(t|θ(l

系統(tǒng)可靠性分析,方法流程,平均故障時(shí)間


D)=∫Θf(tp|Θ)R(tp|Θ)π(Θ|D)dΘ(15)平均故障時(shí)間(meantimetofailure,MTTF)為MTTF=E(T)=∫t0tdt∫Θf(tp|Θ)dΘ(16)式中,D是MLII系統(tǒng)的可用數(shù)據(jù)集;R(tp|D)和λ(tp|D)分別是在tp時(shí)刻的可靠度與故障率。現(xiàn)將BIEA方法的主要步驟羅列如下,其主要分析流程及與經(jīng)典貝葉斯方法的異同如圖5所示。圖5BIEA系統(tǒng)可靠性分析方法流程圖Fig.5FlowchartofBIEAsystemreliabilityanalysismethod

【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]Bayesian-based information extraction and aggregation approach for multilevel systems with multi-source data[J]. Lechang Yang,Jianguo Zhang,Yanling Guo,Qian Wang.  Journal of Systems Engineering and Electronics. 2017(02)
[2]Measuring reliability under epistemic uncertainty:Review on non-probabilistic reliability metrics[J]. Kang Rui,Zhang Qingyuan,Zeng Zhiguo,Enrico Zio,Li Xiaoyang.  Chinese Journal of Aeronautics. 2016(03)



本文編號(hào):3119544

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