基于CCD的γ射線照相中輻射噪聲的統(tǒng)計(jì)特性分析
【文章頁(yè)數(shù)】:6 頁(yè)
【部分圖文】:
圖2α穩(wěn)定分布的概率密度函數(shù)
在高能、高強(qiáng)度的γ射線照相診斷技術(shù)中,由于射線的深穿透作用,通常需要用屏蔽方法將γ射線注量降低到預(yù)定或可接受的控制水平之下。但次級(jí)射線散射效應(yīng)隨之產(chǎn)生,γ射線與CCD相機(jī)的Si薄層探測(cè)器相互作用會(huì)產(chǎn)生電子-空穴對(duì)[9],靈敏區(qū)電荷產(chǎn)生瞬時(shí)變化,CCD相機(jī)將不可避免地同時(shí)記錄射線產(chǎn)....
圖360Co輻照?qǐng)D像(積分時(shí)間為0.01s)
為更好地展現(xiàn)輻射噪聲的形態(tài)特征和后續(xù)數(shù)據(jù)處理過(guò)程,對(duì)原始輻照?qǐng)D像進(jìn)行了減讀出噪聲擬合均值預(yù)處理。此時(shí)本底噪聲分布應(yīng)為讀出噪聲和輻射噪聲二者的卷積結(jié)果。輻射噪聲是指圖3中的高亮斑點(diǎn)噪聲,斑點(diǎn)尺寸可達(dá)幾個(gè)像素。高亮斑點(diǎn)出現(xiàn)的位置是隨機(jī)的,且高亮斑點(diǎn)的數(shù)量與γ射線注量成正比[3-5,1....
圖4不同積分時(shí)間下,分割目標(biāo)數(shù)隨閾值的變化曲線
由圖3可知,輻射噪聲呈現(xiàn)出高亮斑點(diǎn)形態(tài),可采用閾值分割方法對(duì)高亮斑點(diǎn)進(jìn)行提取。但由于讀出噪聲的存在,輻射噪聲不可能從輻照?qǐng)D像中被完全提取出來(lái)。圖4給出了不同積分時(shí)間下,連續(xù)閾值二值化輻照?qǐng)D像的分割目標(biāo)數(shù)隨閾值的變化曲線。由圖4可見(jiàn),輻照?qǐng)D像中識(shí)別的分割目標(biāo)數(shù)隨閾值增加出現(xiàn)2個(gè)峰。....
圖1暗場(chǎng)情況下,PICCD的噪聲統(tǒng)計(jì)分布曲線
CCD相機(jī)噪聲主要包括讀出噪聲(或稱隨機(jī)噪聲)和固有模式噪聲[7-8]2大類(lèi):。在描述CCD相機(jī)噪聲統(tǒng)計(jì)特性時(shí),通常只考慮讀出噪聲的統(tǒng)計(jì)分布。讀出噪聲通常使用高斯模型描述,其均值為相機(jī)的偏置值,標(biāo)準(zhǔn)偏差為幾個(gè)灰度值。偏置值和標(biāo)準(zhǔn)偏差與相機(jī)的生產(chǎn)廠家及型號(hào)有關(guān),也與相機(jī)的工作狀態(tài)有....
本文編號(hào):3941227
本文鏈接:http://sikaile.net/projectlw/hkxlw/3941227.html