等離子體破裂會對托卡馬克裝置的安全運(yùn)行造成嚴(yán)重威脅.等離子體破裂期間電流猝滅速率與電磁負(fù)載的大小及逃逸電流平臺的形成都密切相關(guān).本文對HL-2A裝置等離子體破裂進(jìn)行了統(tǒng)計分析,統(tǒng)計選用等離子電流的兩個衰減區(qū)間90%-10%和80%-20%.分析結(jié)果表明:HL-2A裝置等離子體破裂有四種不同的電流猝滅波形,兩個衰減區(qū)間最小電流猝滅時間的參數(shù)區(qū)分別為2.6 ms和2.2 ms,并且不同衰減區(qū)間下平均電流猝滅時間統(tǒng)計分布明顯不同.

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圖2不同類型電流猝滅的波形圖.

圖1等離子體破裂放電波形

圖380%-20%和90%-10%區(qū)間下,平均電流猝滅時間與安全因子的關(guān)系

等離子體破裂過程復(fù)雜,并且破裂過程很快.本文挑選了HL-2A裝置放電數(shù)據(jù)庫中250炮自然破裂的數(shù)據(jù)分析了等離子體電流猝滅特征.圖3為兩種不同研究區(qū)間下電流猝滅時間與邊界安全因子的關(guān)系圖.從統(tǒng)計分析結(jié)果可以看出,τ80-20和τ90-10的最小值分別為2.2ms和2.6ms.圖....

圖480%-20%和90%-10%區(qū)間下,電流猝滅率與安全因子的關(guān)系

圖380%-20%和90%-10%區(qū)間下,平均電流猝滅時間與安全因子的關(guān)系圖580%-20%和90%-10%區(qū)間平均電流猝滅時間統(tǒng)計分布

圖1等離子體破裂放電波形

圖2為HL-2A上統(tǒng)計出的常見的四種不同類型的電流猝滅波形圖.(A)線性擬合波形,(B)指數(shù)擬合波形,(c)前慢后快型波形,(D)逃逸平臺型波形.以10ms為界限,大于10ms為慢猝滅,反之亦然.其中(A)、(B)是快電流猝滅波形,而(C)、(D)是慢電流猝滅波形.(D)中由....

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