鐵的次級(jí)中子雙微分截面對核裝置的設(shè)計(jì)、運(yùn)行與維護(hù)具有重要作用。相關(guān)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)缺乏,且評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)不完善,需要使用可靠的核理論模型進(jìn)行計(jì)算。本工作利用GEANT4程序結(jié)合不同的中子評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)計(jì)算了8.17, 11.5, 14.1和18 MeV等入射能量下中子轟擊薄鐵靶不同出射角度的次級(jí)中子雙微分截面;同時(shí)利用TALYS程序和GEANT4程序結(jié)合BIC、BERT和INCLXX模型計(jì)算了25.7, 65, 100和150 MeV等入射能量下中子轟擊薄鐵靶不同出射角度的次級(jí)中子雙微分截面,并與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行對比。研究表明,在20 MeV以下能區(qū),ENDF/B-VIII.0庫的計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)符合較好,BROND-3.1、CENDL-3.1、JENDL-4.0u和JEFF-3.3庫的計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)存在差異。在20～150 MeV能區(qū),GEANT4程序的BERT模型和TALYS程序的計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)符合較好,INCLXX模型和BIC模型的計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)存在分歧。整體來看,需要對鐵的中子評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)和核反應(yīng)理論模型做進(jìn)一步研究。 

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【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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