介紹了平面波全聚焦技術(shù)的基本原理,進(jìn)行性能測試,并和相控陣超聲扇掃的結(jié)果進(jìn)行對比。設(shè)計(jì)了平面波全聚焦超聲技術(shù)專用探頭,用于轉(zhuǎn)子焊接接頭缺陷、葉根缺陷以及紅套葉輪缺陷檢測,證明了該項(xiàng)檢測技術(shù)在核電站常規(guī)島應(yīng)用的可行性。 

【文章來源】：無損探傷. 2020,44(06)

【文章頁數(shù)】：6 頁

【部分圖文】：

AS系列試塊

HX試塊

檢測AS-1試塊，成像結(jié)果如圖5所示，半徑10mm的圓弧中使用相控陣超聲扇掃只能勉強(qiáng)發(fā)現(xiàn)兩個(gè)橫孔。使用帶有動(dòng)態(tài)深度聚焦的扇掃可以發(fā)現(xiàn)扇掃聲束覆蓋范圍內(nèi)的橫孔，使用PWI-TFM圓弧中所有的橫孔都能正常識(shí)別。檢測AS-2試塊，相控陣超聲扇形掃查能發(fā)現(xiàn)5個(gè)橫孔，動(dòng)態(tài)深度聚焦扇掃能發(fā)現(xiàn)扇掃聲束覆蓋范圍內(nèi)所有的橫孔，但是通過分析成像顯示的橫孔發(fā)現(xiàn)，AS-2試塊橫孔動(dòng)態(tài)深度扇掃聚焦的效果和AS-1試塊橫孔的動(dòng)態(tài)深度扇掃聚焦效果相比，成像圖形有一定的發(fā)散現(xiàn)象。使用PWI-TFM所有的橫孔都能正常識(shí)別，成像結(jié)果和實(shí)際結(jié)果差距在0.1mm以內(nèi)。


本文編號：3473160