4πβ(PC)-γ符合法測量 60 Co核素活度及不確定度評定
發(fā)布時間:2021-07-15 09:37
4πβ(PC)-γ符合方法主要用于實現(xiàn)β-γ級聯(lián)衰變放射性核素活度的絕對測量,該方法一般測量VYNS(聚氯乙烯-醋酸乙烯共聚物)薄膜源樣品,但其制備過程復(fù)雜。對制源工藝進行了優(yōu)化,用4πβ(PC)-γ數(shù)字符合系統(tǒng),對改進工藝制成的薄膜源進行了測量。用效率外推法獲得的測量結(jié)果顯示,新制60Co源的β表觀效率達到93%,10個樣品源的比活度測量結(jié)果在0.1%范圍內(nèi)一致。通過在數(shù)字符合軟件上改變符合分辨時間、死時間與延遲時間,研究了符合參數(shù)選擇對于測量結(jié)果的影響,評估了60Co核素活度測量的不確定度。
【文章來源】:計量學(xué)報. 2020,41(11)北大核心CSCD
【文章頁數(shù)】:6 頁
【部分圖文】:
薄膜源制備流程及實物照片
在成功制取符合要求的高β探測效率的60Co薄膜源后,對其中10個樣品源進行了60Co核素活度的絕對測量。于2018年11月在中國計量科學(xué)研究院和中國國防科技工業(yè)電離輻射計量一級站的4!β(PC)-γ符合測量系統(tǒng)上先后對所制備的薄膜源進行了測量,比較了實現(xiàn)符合算法的兩套絕對測量裝置的多個版本軟件的測量結(jié)果,通過相互印證,確保了測量結(jié)果的可靠性。通過軟件擬合外推,獲得典型的外推結(jié)果如圖2所示。10個樣品源的測量結(jié)果如表1所示。測量結(jié)果中,β探測效率為60Co薄膜源的最高β探測效率,由實驗數(shù)據(jù)再通過公式計算得到,樣品源的β探測效率在92%~94%,達到了符合測量的要求。外推一致性是符合軟件4種擬合外推方法結(jié)果的相對標準差,10個樣品源的相對標準偏差小于等于0.4%,外推一致性良好。最后的活度取值是擬合外推方法1的結(jié)果值,10個樣品源的比活度測量結(jié)果在0.1%范圍內(nèi)一致。
在一個測量系統(tǒng)中,不同的單元引起的死時間不同,但是整個系統(tǒng)的死時間一般由引起最大死時間的單元確定。一般死時間取經(jīng)驗值4 000 ns,在參數(shù)設(shè)置偏差500 ns的情況下對數(shù)據(jù)進行處理,其結(jié)果如圖3所示。擬合外推活度的相對標準偏差為0.001%,由結(jié)果可以得出死時間對符合測量的影響可以忽略。5.1.2 符合分辨時間
【參考文獻】:
期刊論文
[1]標準不確定度A類評定中極差法的深入討論[J]. 陳凌峰. 計量學(xué)報. 2019(02)
[2]符合法原理及其在活度測量中的應(yīng)用[J]. 李謀,代義華,倪建忠. 原子能科學(xué)技術(shù). 2008(03)
[3]NaI(Tl)-HPGeγ-γ符合譜儀系統(tǒng)死時間校正方法[J]. 仇九子,王書志. 核電子學(xué)與探測技術(shù). 1996(03)
[4]β-γ道相對延遲時間測定[J]. 閻春光. 原子能科學(xué)技術(shù). 1994(05)
[5]4πβ(PC)-γ符合測量60Co活度[J]. 吳學(xué)周,王載勇,楊元弟. 核電子學(xué)與探測技術(shù). 1986(03)
[6]電噴硅溶膠襯墊制備4π薄膜源[J]. 種培基,賀先運. 原子能科學(xué)技術(shù). 1980(01)
[7]電噴涂硅膠薄層底襯制備4πβ薄膜源[J]. 陳慶江,楊景霞. 原子能科學(xué)技術(shù). 1980(01)
本文編號:3285456
【文章來源】:計量學(xué)報. 2020,41(11)北大核心CSCD
【文章頁數(shù)】:6 頁
【部分圖文】:
薄膜源制備流程及實物照片
在成功制取符合要求的高β探測效率的60Co薄膜源后,對其中10個樣品源進行了60Co核素活度的絕對測量。于2018年11月在中國計量科學(xué)研究院和中國國防科技工業(yè)電離輻射計量一級站的4!β(PC)-γ符合測量系統(tǒng)上先后對所制備的薄膜源進行了測量,比較了實現(xiàn)符合算法的兩套絕對測量裝置的多個版本軟件的測量結(jié)果,通過相互印證,確保了測量結(jié)果的可靠性。通過軟件擬合外推,獲得典型的外推結(jié)果如圖2所示。10個樣品源的測量結(jié)果如表1所示。測量結(jié)果中,β探測效率為60Co薄膜源的最高β探測效率,由實驗數(shù)據(jù)再通過公式計算得到,樣品源的β探測效率在92%~94%,達到了符合測量的要求。外推一致性是符合軟件4種擬合外推方法結(jié)果的相對標準差,10個樣品源的相對標準偏差小于等于0.4%,外推一致性良好。最后的活度取值是擬合外推方法1的結(jié)果值,10個樣品源的比活度測量結(jié)果在0.1%范圍內(nèi)一致。
在一個測量系統(tǒng)中,不同的單元引起的死時間不同,但是整個系統(tǒng)的死時間一般由引起最大死時間的單元確定。一般死時間取經(jīng)驗值4 000 ns,在參數(shù)設(shè)置偏差500 ns的情況下對數(shù)據(jù)進行處理,其結(jié)果如圖3所示。擬合外推活度的相對標準偏差為0.001%,由結(jié)果可以得出死時間對符合測量的影響可以忽略。5.1.2 符合分辨時間
【參考文獻】:
期刊論文
[1]標準不確定度A類評定中極差法的深入討論[J]. 陳凌峰. 計量學(xué)報. 2019(02)
[2]符合法原理及其在活度測量中的應(yīng)用[J]. 李謀,代義華,倪建忠. 原子能科學(xué)技術(shù). 2008(03)
[3]NaI(Tl)-HPGeγ-γ符合譜儀系統(tǒng)死時間校正方法[J]. 仇九子,王書志. 核電子學(xué)與探測技術(shù). 1996(03)
[4]β-γ道相對延遲時間測定[J]. 閻春光. 原子能科學(xué)技術(shù). 1994(05)
[5]4πβ(PC)-γ符合測量60Co活度[J]. 吳學(xué)周,王載勇,楊元弟. 核電子學(xué)與探測技術(shù). 1986(03)
[6]電噴硅溶膠襯墊制備4π薄膜源[J]. 種培基,賀先運. 原子能科學(xué)技術(shù). 1980(01)
[7]電噴涂硅膠薄層底襯制備4πβ薄膜源[J]. 陳慶江,楊景霞. 原子能科學(xué)技術(shù). 1980(01)
本文編號:3285456
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