基于神光組件光機裝校基準傳遞體系的研究
發(fā)布時間:2021-01-26 18:39
神光-Ⅲ主機裝置激光參數(shù)測量組件是一項復(fù)雜系統(tǒng)工程,包含了預(yù)放參數(shù)測量組件48套、主放參數(shù)測量組件48套、反轉(zhuǎn)器測量組件48套、靶場測量組件48套,總計192套。本文基于神光-Ⅲ主機裝置激光參數(shù)測量系統(tǒng)批量化生產(chǎn)“一擱準”的設(shè)計要求,提出了一種神光組件光機裝校基準傳遞體系,滿足神光-Ⅲ主機裝置激光參數(shù)測量系統(tǒng)相同模塊之間具有很好的互換性,實現(xiàn)“一擱準”的設(shè)計思想。研究結(jié)果表明:對本課題的總體裝配指標分解適當,裝配工藝設(shè)計具有很高地可操作性,基準傳遞體系建立正確、合理,裝校平臺建立完備,首件裝配和批量化生產(chǎn)指標驗證充分,產(chǎn)品具有很高地互換性,實現(xiàn)了設(shè)計“一擱準”的設(shè)計思想。
【文章來源】:西安工業(yè)大學(xué)陜西省
【文章頁數(shù)】:67 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
Abstract
1 緒論
1.1 課題研究背景
1.2 論文的目的和意義
1.3 本文研究主要內(nèi)容
1.4 本文的內(nèi)容安排
2 裝配任務(wù)研究
2.1 參數(shù)測量組件結(jié)構(gòu)分析
2.2 裝配技術(shù)要求分解
2.3 加工與裝調(diào)誤差分析
2.3.1 加工與裝配誤差分析
2.3.2 裝調(diào)允差分析
2.4 本章小結(jié)
3 基準傳遞體系的建立
3.1 基準傳遞體系建立遵循的原則
3.1.1 模塊化裝調(diào)工藝設(shè)計原則
3.1.2 互換性及一致性技術(shù)原則
3.1.3 標準化工作原則
3.1.4 潔凈性環(huán)境原則
3.1.5 全過程質(zhì)量控制原則
3.2 裝配流程設(shè)計
3.3 基準傳遞體系的設(shè)計
3.4 基準傳遞體系工藝設(shè)計
3.4.1 前基板組定位基準條裝調(diào)工藝研究
3.4.2 后基板組定位基準條裝調(diào)工藝研究
3.4.3 分光模塊裝調(diào)工藝研究
3.4.4 衰減模塊裝調(diào)工藝研究
3.4.5 波前縮束模塊裝調(diào)工藝研究
3.4.6 總體安裝調(diào)試工藝研究
3.5 本章小結(jié)
4 基準傳遞體系的驗證
4.1 前基板組工藝驗證過程
4.2 后基板組工藝驗證過程
4.3 分光模塊工藝驗證過程
4.4 衰減模塊工藝驗證過程
4.5 近場縮束模塊工藝驗證過程
4.6 波前縮束模塊工藝驗證過程
4.7 遠場縮束模塊工藝驗證過程
4.8 總體安裝調(diào)試工藝驗證過程
4.9 “一擱準”驗證
4.10 關(guān)鍵裝配過程控制
4.11 本章小結(jié)
5 批量化生產(chǎn)基準傳遞體系的再驗證
5.1 裝校平臺的建立
5.2 批量生產(chǎn)過程指標驗證
5.2.1 裝配過程指標驗證
5.2.2 總裝調(diào)試指標驗證
5.3 本章小結(jié)
6 結(jié)論
6.1 結(jié)論
6.2 對進一步研究的幾點建議
參考文獻
攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表的論文
致謝
【參考文獻】:
期刊論文
[1]光干涉方法在角度偏差測量中的應(yīng)用[J]. 陳磊,王青,何勇. 紅外與激光工程. 2008(04)
[2]光學(xué)表面粗糙度研究的進展與方向[J]. 徐德衍,林尊琪. 光學(xué)儀器. 1996(01)
本文編號:3001623
【文章來源】:西安工業(yè)大學(xué)陜西省
【文章頁數(shù)】:67 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
Abstract
1 緒論
1.1 課題研究背景
1.2 論文的目的和意義
1.3 本文研究主要內(nèi)容
1.4 本文的內(nèi)容安排
2 裝配任務(wù)研究
2.1 參數(shù)測量組件結(jié)構(gòu)分析
2.2 裝配技術(shù)要求分解
2.3 加工與裝調(diào)誤差分析
2.3.1 加工與裝配誤差分析
2.3.2 裝調(diào)允差分析
2.4 本章小結(jié)
3 基準傳遞體系的建立
3.1 基準傳遞體系建立遵循的原則
3.1.1 模塊化裝調(diào)工藝設(shè)計原則
3.1.2 互換性及一致性技術(shù)原則
3.1.3 標準化工作原則
3.1.4 潔凈性環(huán)境原則
3.1.5 全過程質(zhì)量控制原則
3.2 裝配流程設(shè)計
3.3 基準傳遞體系的設(shè)計
3.4 基準傳遞體系工藝設(shè)計
3.4.1 前基板組定位基準條裝調(diào)工藝研究
3.4.2 后基板組定位基準條裝調(diào)工藝研究
3.4.3 分光模塊裝調(diào)工藝研究
3.4.4 衰減模塊裝調(diào)工藝研究
3.4.5 波前縮束模塊裝調(diào)工藝研究
3.4.6 總體安裝調(diào)試工藝研究
3.5 本章小結(jié)
4 基準傳遞體系的驗證
4.1 前基板組工藝驗證過程
4.2 后基板組工藝驗證過程
4.3 分光模塊工藝驗證過程
4.4 衰減模塊工藝驗證過程
4.5 近場縮束模塊工藝驗證過程
4.6 波前縮束模塊工藝驗證過程
4.7 遠場縮束模塊工藝驗證過程
4.8 總體安裝調(diào)試工藝驗證過程
4.9 “一擱準”驗證
4.10 關(guān)鍵裝配過程控制
4.11 本章小結(jié)
5 批量化生產(chǎn)基準傳遞體系的再驗證
5.1 裝校平臺的建立
5.2 批量生產(chǎn)過程指標驗證
5.2.1 裝配過程指標驗證
5.2.2 總裝調(diào)試指標驗證
5.3 本章小結(jié)
6 結(jié)論
6.1 結(jié)論
6.2 對進一步研究的幾點建議
參考文獻
攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表的論文
致謝
【參考文獻】:
期刊論文
[1]光干涉方法在角度偏差測量中的應(yīng)用[J]. 陳磊,王青,何勇. 紅外與激光工程. 2008(04)
[2]光學(xué)表面粗糙度研究的進展與方向[J]. 徐德衍,林尊琪. 光學(xué)儀器. 1996(01)
本文編號:3001623
本文鏈接:http://sikaile.net/projectlw/hkxlw/3001623.html
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