發(fā)布時間：2021-01-04 02:27

　　核聚變裝置中的等離子體,除了工作氣體外,常常會由于各種原因會混入雜質(zhì)。而雜質(zhì)對核聚變的影響非常大,雜質(zhì)的濃度可由有效電荷數(shù)（effZ）來表征,effZ反應(yīng)了等離子體輻射損失的情況,是研究等離子體中各種物理現(xiàn)象和機制的重要品質(zhì)因素。所以在等離子體診斷中,effZ的診斷是一項非常重要的任務(wù)。軔致輻射是托卡馬克等離子體中的一種非常普遍的輻射過程。本文研究的主要內(nèi)容就是利用可見光區(qū)域的軔致輻射來診斷有效電荷數(shù)effZ。本文首先對核聚變相關(guān)知識以及核聚變裝置托卡馬克、等離子體輻射及本文涉及到的相關(guān)診斷方法、有效電荷數(shù)的診斷原理和HL-2A上的軔致輻射以及CXRS系統(tǒng)等做了簡要介紹。本文利用兩個診斷系統(tǒng)得到的軔致輻射信號來診斷等離子體中的有效電荷數(shù)。首先對CXRS診斷系統(tǒng)建立坐標(biāo)系,利用對中性束光譜的擬合結(jié)果通過多普勒頻移效應(yīng)確定系統(tǒng)觀測通道的空間位置,然后利用Matlab編程,根據(jù)軔致輻射強度的理論公式,從理論上計算出了系統(tǒng)各個觀測通道上軔致輻射強度的積分值,然后和由該系統(tǒng)得到的電荷交換復(fù)合光譜中提取到的各通道的背景光譜信號做了比較,他們處于一個數(shù)量級上,從側(cè)面證明了由CXRS背景光譜測量有效電... 

【文章來源】：電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：68 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

常規(guī)Tokamak裝置示意圖

(a) (b)圖 1-3 托卡馬克裝置磁體系統(tǒng)(a) 磁體系統(tǒng)整體圖；(a) 極向截面圖HL -2A是 2002 年在核工業(yè)西南物理研究院投入使用的一個中等規(guī)模托

T （環(huán)形磁場）為 2.8T。 HL -2A是中國第一個偏濾器托卡馬克第三代裝置。它廣泛參與了等離子體的基礎(chǔ)研究，可以大大提已獲得的等離子體參數(shù)，在國際上處于領(lǐng)先位置[4]，圖(1-4)和 -2A的實物圖及其極向剖面圖。


本文編號：2955963