熔石英損傷修復(fù)流程基準(zhǔn)標(biāo)識(shí)定位及損傷評(píng)定研究
【學(xué)位授予單位】:哈爾濱工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號(hào)】:TP18;TL632
【圖文】:
圖 1-1 熔石英元件循環(huán)回收策略[19] 課題研究的目的和意義圖 1-2 所示為熔石英損傷修復(fù)流程,能夠有效提升熔石英元件的負(fù)載外高功率固體激光裝置中得到了廣泛的研究。
過成像系統(tǒng)獲取帶有標(biāo)識(shí)信息的目標(biāo)圖像,經(jīng)過一系列圖息,用于參考點(diǎn)建立或技術(shù)性測(cè)量。目前,常用的標(biāo)識(shí)特標(biāo)識(shí)、棋盤格、十字交叉線等特征。其中,圓形基準(zhǔn)標(biāo)識(shí)旋轉(zhuǎn)不變特性,易通過算法識(shí)別并提取,在攝影測(cè)量、光泛的應(yīng)用。IF 裝置中使用 CO2激光器在光學(xué)元件上刻制基準(zhǔn)標(biāo)識(shí)[20],符號(hào)位于激光通光口徑之外,可以有效避免激光對(duì)標(biāo)識(shí)區(qū)
【參考文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):2738336
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