X—射線探測(cè)器前端讀出電路的設(shè)計(jì)與分析
【圖文】:
第 1 章 緒論CCD/CMOS 敏感元件陣列、數(shù)據(jù)采集與處理單元、圖像重建單元、計(jì)算機(jī)控制單元、圖像顯示與分析單元[8]。計(jì)算機(jī)層析成像技術(shù)借助計(jì)算機(jī)斷層掃描原理,與成像光譜技術(shù)結(jié)合,根據(jù)物體在一個(gè)方向上的一個(gè)投影或者多個(gè)方向的投影,建立物體的空間圖像信息。其檢測(cè)原理為:光轉(zhuǎn)換屏將 X 射線光子轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光圖像,通過(guò) CCD 或CMOS 轉(zhuǎn)換為圖像電信號(hào)。圖像電信號(hào)是模擬信號(hào),數(shù)據(jù)采集和處理單元將這些信號(hào)進(jìn)行 A/D 轉(zhuǎn)換,把處理后得到的數(shù)字信號(hào)傳送至計(jì)算機(jī),由計(jì)算機(jī)重建圖像并顯示。計(jì)算機(jī)層析成像技術(shù)在探測(cè)快速變化目標(biāo)上有明顯優(yōu)勢(shì),其廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、軍事等方面,其發(fā)展前景受到越來(lái)越多的重視。
第 1 章 緒論噪比,降低輸出圖像的質(zhì)量。因此為適應(yīng)大范圍光子的檢測(cè)要求,前端讀出電路對(duì)信噪比的要求會(huì)不斷提高。靈敏度更高。由于被檢測(cè) X 射線粒子能量范圍的增大,在增加其檢測(cè)范圍的同時(shí),當(dāng)檢測(cè)粒子能量較低時(shí)很難保證其靈敏度和準(zhǔn)確性,因此要求前端讀出電路保證較高的靈敏度。功耗更低。隨著像素陣列的不斷擴(kuò)大,整個(gè)探測(cè)器前端讀出電路所消耗的功耗會(huì)不斷增加,,而未來(lái)市場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品的要求勢(shì)必會(huì)朝著低功耗的方向發(fā)展,因此,研制低功耗 X 射線探測(cè)器的前端讀出電路是科研的重點(diǎn)之一。1.4 本文的研究?jī)?nèi)容和設(shè)計(jì)指標(biāo)X 射線探測(cè)器的像素陣列如圖 1.5 所示:
【學(xué)位授予單位】:江蘇科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2019
【分類(lèi)號(hào)】:TL816.1
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