基于FPGA的交替式積分器設(shè)計(jì)
發(fā)布時(shí)間:2020-03-30 10:11
【摘要】:新一代托卡馬克裝置放電時(shí)間可達(dá)千秒,積分器是其電磁診斷系統(tǒng)的關(guān)鍵電子設(shè)備之一。為了保證電磁診斷的精確度,需要設(shè)計(jì)能夠長時(shí)間工作的積分器,其應(yīng)該具備高精度、低漂移、良好的實(shí)時(shí)性與電磁兼容性等特點(diǎn)。論文調(diào)研了國內(nèi)外積分器的研究現(xiàn)狀,詳細(xì)分析了積分器的工作原理、實(shí)現(xiàn)形式及存在的問題,設(shè)計(jì)了基于現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)的交替式積分器。以FPGA作為交替式積分器的中央處理器,采用兩路實(shí)時(shí)補(bǔ)償型積分單元對(duì)微分信號(hào)交替積分,由模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)將兩路積分單元輸出的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),然后由FPGA完成兩路積分信號(hào)的拼接運(yùn)算,再由數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)將有效信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào),通過隔離電路將信號(hào)輸出;采用Verilog HDL語言編寫系統(tǒng)程序,通過DSP Builder仿真驗(yàn)證設(shè)計(jì)方案的正確性;從電路板的布局布線等方面來確保電路板的電磁兼容性。2014年春季超導(dǎo)托卡馬克(EAST)裝置的放電試驗(yàn)表明,本交替式積分器能夠很好的實(shí)現(xiàn)兩路積分信號(hào)的拼接,具有良好的穩(wěn)定性和較強(qiáng)的抗電磁干擾能力,滿足托卡馬克裝置的設(shè)計(jì)要求。
【圖文】:
Fig.邋1.1邋Pick邋up邋coU邋and邋the邋analog邋in化grak)r逡逑雖然各種類型的磁探測器的結(jié)構(gòu)與應(yīng)用有很大差異,但是它們都是通過電磁逡逑感應(yīng)原理來實(shí)現(xiàn)信號(hào)檢測的。圖1.1給出了一個(gè)由磁探針與積分器組成的電磁診逡逑斷系統(tǒng),當(dāng)磁感應(yīng)強(qiáng)度5產(chǎn)生變化時(shí),穿過磁探針線圈橫截面的磁通量^也會(huì)發(fā)逡逑生變化,則磁探針輸出的感生電動(dòng)勢E為[2]:逡逑e邋二邋Vi邋二邋NA邋地(1-1)逡逑式中,V,.為磁探針輸出端的電壓差,iV為線圈kw數(shù),為線圈截面面積。為逡逑了得到物理量磁感應(yīng)強(qiáng)度公或者磁通量需要圖1.1中所示的積分器對(duì)V,進(jìn)逡逑行積分,其輸出為:逡逑—邋nab逡逑V!澹遥眠姡义掀渲校?c被稱為積分器的積分時(shí)間常數(shù)。逡逑由于元器件的非理想性會(huì)造成圖1.1所示的模擬積分器的輸出值偏離理想情逡逑況,即產(chǎn)生積分誤差。積分誤差主要包括零點(diǎn)漂移、非線性誤差和電容泄漏誤差。逡逑隨著積分時(shí)間t的延長
在眾多FPGA器件供應(yīng)巧中,Altera公司的器件W較高性價(jià)比和豐富的EDA(電逡逑子設(shè)計(jì)自動(dòng)化)開發(fā)工具而深受到廣大工程師的青睞。本文選擇Altera公司Cyclone2逡逑系列FPGA來作為交替式積分器的控制器,其內(nèi)部功能模塊如下圖3.3所示,從圖逡逑中可W看出它具有豐富的邏輯資源,,包括了乘法器、專用外部存儲(chǔ)器接口電路、逡逑嵌入式存儲(chǔ)器模塊、鎖相環(huán)(PLL)及高速差分I/O模塊等,完全能滿足本設(shè)計(jì)的逡逑q?*邋fHf'逡逑卪叟。逡逑Hj0e?邐涼一*H逡逑邐邋___—邋?u邋m逡逑r邋j逡逑—邐1—T邐邐逡逑泌左誠iS邐<邐詞逡逑,‘;邋?';邐-逡逑、作灄邋I巧於邐!邋’》■邐J邋1?季邋n*逡逑^邋*前》姦邋Array邐Anay邐A邋Atm逡逑‘邋1逡逑**啦《—^邋'-邐邐Ptn逡逑!逡逑in邋-、的w>-…之;!”-Ifl逡逑圖3.3邋Cyclone]型FPGA器件結(jié)構(gòu)逡逑Fig邋3.3邋Structures邋of邋the邋Cyc]0ne2邋FPGA邋device逡逑19逡逑
【學(xué)位授予單位】:合肥工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類號(hào)】:TL631.24
本文編號(hào):2607409
【圖文】:
Fig.邋1.1邋Pick邋up邋coU邋and邋the邋analog邋in化grak)r逡逑雖然各種類型的磁探測器的結(jié)構(gòu)與應(yīng)用有很大差異,但是它們都是通過電磁逡逑感應(yīng)原理來實(shí)現(xiàn)信號(hào)檢測的。圖1.1給出了一個(gè)由磁探針與積分器組成的電磁診逡逑斷系統(tǒng),當(dāng)磁感應(yīng)強(qiáng)度5產(chǎn)生變化時(shí),穿過磁探針線圈橫截面的磁通量^也會(huì)發(fā)逡逑生變化,則磁探針輸出的感生電動(dòng)勢E為[2]:逡逑e邋二邋Vi邋二邋NA邋地(1-1)逡逑式中,V,.為磁探針輸出端的電壓差,iV為線圈kw數(shù),為線圈截面面積。為逡逑了得到物理量磁感應(yīng)強(qiáng)度公或者磁通量需要圖1.1中所示的積分器對(duì)V,進(jìn)逡逑行積分,其輸出為:逡逑—邋nab逡逑V!澹遥眠姡义掀渲校?c被稱為積分器的積分時(shí)間常數(shù)。逡逑由于元器件的非理想性會(huì)造成圖1.1所示的模擬積分器的輸出值偏離理想情逡逑況,即產(chǎn)生積分誤差。積分誤差主要包括零點(diǎn)漂移、非線性誤差和電容泄漏誤差。逡逑隨著積分時(shí)間t的延長
在眾多FPGA器件供應(yīng)巧中,Altera公司的器件W較高性價(jià)比和豐富的EDA(電逡逑子設(shè)計(jì)自動(dòng)化)開發(fā)工具而深受到廣大工程師的青睞。本文選擇Altera公司Cyclone2逡逑系列FPGA來作為交替式積分器的控制器,其內(nèi)部功能模塊如下圖3.3所示,從圖逡逑中可W看出它具有豐富的邏輯資源,,包括了乘法器、專用外部存儲(chǔ)器接口電路、逡逑嵌入式存儲(chǔ)器模塊、鎖相環(huán)(PLL)及高速差分I/O模塊等,完全能滿足本設(shè)計(jì)的逡逑q?*邋fHf'逡逑卪叟。逡逑Hj0e?邐涼一*H逡逑邐邋___—邋?u邋m逡逑r邋j逡逑—邐1—T邐邐逡逑泌左誠iS邐<邐詞逡逑,‘;邋?';邐-逡逑、作灄邋I巧於邐!邋’》■邐J邋1?季邋n*逡逑^邋*前》姦邋Array邐Anay邐A邋Atm逡逑‘邋1逡逑**啦《—^邋'-邐邐Ptn逡逑!逡逑in邋-、的w>-…之;!”-Ifl逡逑圖3.3邋Cyclone]型FPGA器件結(jié)構(gòu)逡逑Fig邋3.3邋Structures邋of邋the邋Cyc]0ne2邋FPGA邋device逡逑19逡逑
【學(xué)位授予單位】:合肥工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類號(hào)】:TL631.24
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本文編號(hào):2607409
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