針對以電離層模型為參考的電離層重構算法對模型依賴性強、計算復雜、適應性不強的問題,提出了一種不依賴于參考模型的電離層區(qū)域重構算法,其僅依靠區(qū)域內(nèi)的采樣數(shù)據(jù)對區(qū)域電離層分布進行重構.該算法首先根據(jù)重構區(qū)域覆蓋范圍內(nèi)分布的多個垂測站實測的f_cF₂,構造經(jīng)度因子、緯度因子與f_cF₂關系式,重構出區(qū)域內(nèi)任一點的f_cF₂;然后選取一個垂測站為基準,構造基準站f_cF₂、f_cF₁與重構對應點的f_cF₂擴展因子的關系式,以及重構距離點上任一高度上的等離子體頻率與擴展因子、基準站f_cF₁的關系式,通過該擴展因子及關系式即可得到區(qū)域內(nèi)的電子濃度情況.與均勻電離層假設下合成的斜測描跡相比,本文重構方法合成的斜測描跡更接近真實值,且試驗表明其進一步提升了電離層重構的精度.

【文章頁數(shù)】：7 頁

【文章目錄】：
引 言
1 電離層區(qū)域重構新方法
2 重構方法驗證
3 結 論



本文編號：3857394