利用蒙特卡洛程序,探討可控源一體化測井儀近源距伽馬探測器源距對探測深度、層分辨率、伽馬能譜形狀的影響,以及近遠(yuǎn)源距中子探測器源距對計數(shù)比的影響。結(jié)果表明,源距越大,各探測器計數(shù)越小,近遠(yuǎn)源距中子探測器計數(shù)的比值也越小;伽馬探測器的探測深度和層分辨率變大,伽馬探測器譜形保持不變。針對來自儀器外殼材料對伽馬能譜干擾較大問題,探討硼套長度和儀器外殼材料對伽馬能譜的影響。通過更換外殼材料來降低Fe峰的干擾,所選的3種外殼材料,結(jié)合價格因素、加工難度和解譜主要元素可以看出,鈦鋼TC11是比較合適的選擇。 

【文章來源】：測井技術(shù). 2020,44(02)

【文章頁數(shù)】：7 頁

【部分圖文】：

模型結(jié)構(gòu)

圖5 近源距伽馬探測器計數(shù)與源距的關(guān)系從圖5中可以看出,源距越大計數(shù)率越低,但在0.1%孔隙度下的計數(shù)率要比23.5%孔隙度的大,隨著源距的增大兩者差值越來越大,這說明源距越大,對孔隙度的分辨能力也就越好。能譜的測量要求在不同源距和孔隙度的情況下,所有的標(biāo)志峰位都能夠顯示出來(極限情況除外,如100%孔隙度,即純水的情況下)。

從圖5中可以看出,源距越大計數(shù)率越低,但在0.1%孔隙度下的計數(shù)率要比23.5%孔隙度的大,隨著源距的增大兩者差值越來越大,這說明源距越大,對孔隙度的分辨能力也就越好。能譜的測量要求在不同源距和孔隙度的情況下,所有的標(biāo)志峰位都能夠顯示出來(極限情況除外,如100%孔隙度,即純水的情況下)。從圖6可見,源距的改變不會影響到譜形的變化,即使近源距伽馬探測器往后移動10 cm,能譜也不會因為計數(shù)的降低而產(chǎn)生失真,標(biāo)志元素的峰位全部存在,并且能夠清晰地辯認(rèn)出來。計數(shù)率降低對能譜高能段的影響較大,該區(qū)間的能譜會產(chǎn)生較大的波動。

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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博士論文
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碩士論文
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本文編號：3252664