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基于高通量測序精細(xì)定位水稻斑點(diǎn)葉基因Spl34(t)

發(fā)布時(shí)間:2023-04-08 00:34
  水稻斑點(diǎn)葉突變體是一類特殊的遺傳材料,對探究水稻細(xì)胞程序性死亡、過敏性反應(yīng)及抗病調(diào)控機(jī)理等具有重要意義。水稻斑點(diǎn)葉突變體Spl34(Spotted leaf 34)是從兩個(gè)正常綠葉材料粵晶絲苗2號和H4的F2群體中獲得的自然突變體。前人已對突變體Spl34進(jìn)行了遺傳分析和基因初步定位,表明Spl34斑點(diǎn)葉表型受一個(gè)顯性基因Spl34(t)調(diào)控,利用F2(02428/Spl34)群體將其初步定位于第11號染色體19.84-22.48Mb區(qū)間。在此基礎(chǔ)上,本研究進(jìn)一步對突變體Spl34的農(nóng)藝性狀和理化指標(biāo)進(jìn)行鑒定,并利用SSR/InDel標(biāo)記及高通量測序?qū)Π唿c(diǎn)葉基因進(jìn)行精細(xì)定位,同時(shí)對定位區(qū)間的序列進(jìn)行比較研究。所取得的主要結(jié)果如下:1、突變體Spl34主要農(nóng)藝及品質(zhì)性狀未受到斑點(diǎn)性狀的不利影響。以F8代Spl34單株分離的無斑點(diǎn)植株為對照(CK),田間表型調(diào)查發(fā)現(xiàn)Spl34與CK相比未出現(xiàn)早衰現(xiàn)象,兩者農(nóng)藝性狀沒有明顯差異。稻米品質(zhì)分析發(fā)現(xiàn),突變體Spl34和CK的整精米率在0.01水平上差異顯著,其他指標(biāo)沒有顯著差異。種...

【文章頁數(shù)】:71 頁

【學(xué)位級別】:碩士

【文章目錄】:
摘要
abstract
英文縮寫詞與英漢對照表
1 前言
    1.1 水稻斑點(diǎn)葉的研究進(jìn)展
        1.1.1 水稻斑點(diǎn)葉突變體的來源
        1.1.2 水稻斑點(diǎn)葉突變體的一般表型
        1.1.3 水稻斑點(diǎn)葉突變體抗病性機(jī)理
        1.1.4 水稻斑點(diǎn)葉突變體基因功能研究
    1.2 基于基因組少量分子標(biāo)記的基因定位
        1.2.1 基因定位的原理
        1.2.2 基于基因組少量DNA分子標(biāo)記的基因定位
    1.3 基于高通量測序的基因定位
        1.3.1 Sanger測序技術(shù)
        1.3.2 NGS測序技術(shù)
        1.3.3 單分子測序技術(shù)
        1.3.4 基于BSA-seq法基因定位
    1.4 本研究的目的意義
2 材料與方法
    2.1 供試材料
    2.2 技術(shù)路線
    2.3 試驗(yàn)方法
        2.3.1 突變體Spl34田間表型及農(nóng)藝性狀
        2.3.2 突變體Spl34對紫外光的反應(yīng)
        2.3.3 突變體Spl34的SPAD和可溶性蛋白測定
        2.3.4 突變體Spl34光合速率測定
        2.3.5 突變體Spl34中H2O2和O2
-的檢測
        2.3.6 遺傳分析及定位群體的構(gòu)建
        2.3.7 基于SSR/InDel標(biāo)記的基因定位方法
        2.3.8 基于BSA-seq法的基因定位
        2.3.9 突變體Spl34的單分子測序及數(shù)據(jù)分析
3 結(jié)果與分析
    3.1 突變體Spl34農(nóng)藝及品質(zhì)性狀的鑒定
    3.2 突變體Spl34的生理生化指標(biāo)
        3.2.1 突變體Spl34對紫外光的反應(yīng)
        3.2.2 SPAD(代表葉綠素程度)測定
        3.2.3 可溶性蛋白測定
        3.2.4 光合速率測定
        3.2.5 H2O2和O2
-的檢測
    3.3 基于SSR/InDel標(biāo)記的基因定位
        3.3.1 遺傳分析及定位群體的構(gòu)建
        3.3.2 基于SSR/InDel的斑點(diǎn)葉基因Spl34(t)精細(xì)定位
        3.3.3 定位區(qū)間候選基因分析
    3.4 基于高通量測序進(jìn)行BSA-seq的基因定位
        3.4.1 混合池測序數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)
        3.4.2 比對到日本晴的關(guān)聯(lián)分析
        3.4.3 基于單分子測序從頭組裝序列的關(guān)聯(lián)分析
        3.4.4 定位區(qū)間內(nèi)序列比較分析
4 討論與結(jié)論
    4.1 討論
        4.1.1 水稻斑點(diǎn)葉突變體的相關(guān)研究
        4.1.2 斑點(diǎn)葉突變對水稻農(nóng)藝性狀的影響
        4.1.3 基于測序的基因定位
        4.1.4 基于SSR/InDel和BSA-seq的Spl34(t)的定位比較
    4.2 結(jié)論
        4.2.1 突變體Spl34的農(nóng)藝性狀鑒定
        4.2.2 突變體Spl34生化指標(biāo)鑒定
        4.2.3 基于SSR/InDel的定位結(jié)果
        4.2.4 基于測序比對到日本晴的定位結(jié)果
        4.2.5 基于單分子測序進(jìn)行從頭組裝的精細(xì)定位研究
    4.3 后續(xù)研究設(shè)想
致謝
參考文獻(xiàn)
附錄A:相關(guān)試劑的配制方法
附錄B:相關(guān)InDelDel標(biāo)記序列
附錄C:相關(guān)SSR標(biāo)記序列
附錄D:研究圖片



本文編號:3785643

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