光譜透過率測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)及優(yōu)化
發(fā)布時(shí)間:2017-06-07 20:14
本文關(guān)鍵詞:光譜透過率測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)及優(yōu)化,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
【摘要】:光譜透過率反映了光學(xué)系統(tǒng)的能量損失,是評(píng)價(jià)光學(xué)成像亮度和清晰程度的重要參數(shù)。針對(duì)光譜透過率的測(cè)試要求,提出一種反射式雙通道測(cè)試方法,建立了基于雙通道光電檢測(cè)技術(shù)和信號(hào)鎖相放大技術(shù)的透過率測(cè)量模型,構(gòu)建設(shè)計(jì)了準(zhǔn)直擴(kuò)束、斬波分光、接收組件等光機(jī)系統(tǒng)結(jié)構(gòu),利用光纖的全反射原理及積分球的勻光特性提高了系統(tǒng)的測(cè)試精度。并對(duì)斬波分光組件進(jìn)行了模態(tài)分析,根據(jù)分析結(jié)果進(jìn)行了設(shè)計(jì)優(yōu)化。最后對(duì)系統(tǒng)誤差因素進(jìn)行分析,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,系統(tǒng)可在亮場(chǎng)環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試,且系統(tǒng)的適用光譜范圍可達(dá)300nm~1700nm,經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)透過率板的標(biāo)定,其測(cè)試精度為0.5%。
【關(guān)鍵詞】:光譜透過率 反射式雙通道 斬波盤 模態(tài)分析 積分球
【學(xué)位授予單位】:長春理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號(hào)】:TP274
【目錄】:
- 摘要4-5
- ABSTRACT5-7
- 第一章 緒論7-11
- 1.1 本論文研究的目的和意義7
- 1.2 國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀7-10
- 1.3 本論文主要研究內(nèi)容及技術(shù)指標(biāo)10-11
- 第二章 光譜透過率測(cè)試系統(tǒng)總體方案設(shè)計(jì)11-19
- 2.1 光譜透過率測(cè)量基本原理11
- 2.2 常見的透過率測(cè)量方法11-16
- 2.3 測(cè)試系統(tǒng)組成及工作原理16-18
- 2.4 本章小結(jié)18-19
- 第三章 光譜透過率測(cè)試系統(tǒng)的光機(jī)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)19-35
- 3.1 系統(tǒng)光路結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)19-27
- 3.2 系統(tǒng)機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)27-34
- 3.3 本章小結(jié)34-35
- 第四章 系統(tǒng)關(guān)鍵件模態(tài)分析及結(jié)構(gòu)優(yōu)化35-44
- 4.1 模態(tài)分析理論基礎(chǔ)35-36
- 4.2 斬波盤優(yōu)化前的模態(tài)分析36-38
- 4.3 斬波盤的優(yōu)化分析38-41
- 4.4 斬波盤優(yōu)化后的模態(tài)分析41-43
- 4.5 本章小結(jié)43-44
- 第五章 實(shí)驗(yàn)及結(jié)果分析44-50
- 5.1 測(cè)試實(shí)驗(yàn)44-45
- 5.2 儀器的誤差影響因素分析45-47
- 5.3 非線性的修正方法47-48
- 5.4 不確定度的合成48
- 5.5 實(shí)驗(yàn)結(jié)果處理48-49
- 5.6 本章小結(jié)49-50
- 總結(jié)50-51
- 致謝51-52
- 參考文獻(xiàn)52-53
本文關(guān)鍵詞:光譜透過率測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)及優(yōu)化,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
,本文編號(hào):430197
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