基于集成學(xué)習(xí)的軟件缺陷預(yù)測研究
【文章頁數(shù)】:53 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
圖4-1.?HSRF算法的流程圖??Fig.4-1?Flow?chart?of?HSRF?algorithm??
?基寧集成學(xué)習(xí)的軟件缺陷預(yù)測研宄???習(xí)器(即隨機森林)。??這里需要指出的是,為了方便計算,運用SMOTE進行過采樣時,將隨機選擇??的近鄰個數(shù)設(shè)為10,?S:lE類樣本的個數(shù)達到總體樣本數(shù)的20%時,就停止采樣。??HSRF算法的具體流程如圖4-1所示:??^???1 ̄r??....
圖5-1.算法的流程圖??Fig.5-1?Algorithm?flow?chart??
,FSCERS方法將基??于條件信息熵的屬性約簡技術(shù)與隨機子空間融合在一起,能夠同時發(fā)揮這兩種特征??選擇[58]技術(shù)的優(yōu)勢。FSCERS方法所選擇的特征包括兩個部分:一方面,利用基于??條件信息熵的屬性約簡技術(shù)來選擇一部分特征,這部分特征能夠保留初始特征集的??分類能力,從而保....
圖2-1Bagging算法操作圖
基于混合采樣與集成學(xué)習(xí)的軟件缺陷預(yù)測研究14輸入樣本擾動:基于原始數(shù)據(jù)集,構(gòu)建多個數(shù)據(jù)子集,再利用不同的數(shù)據(jù)子集訓(xùn)練出不同的基分類器。常見方法為采樣法。輸入屬性擾動:基于原始屬性集,構(gòu)建若干個屬性子集,再利用不同的屬性子集訓(xùn)練出不同的基分類器。該方法適用于數(shù)據(jù)集中包含較多冗余屬性....
圖5-1.ASPStacking算法的流程圖
基于混合采樣與集成學(xué)習(xí)的軟件缺陷預(yù)測研究44圖5-1.ASP<sub>S</sub>tacking算法的流程圖Fig.5-1ASP<sub>S</sub>tackingalgorithmflowdiagram如圖5-1所示,ASP<sub>S</sub>tacking算法首先對初....
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