基于深度學(xué)習(xí)的磁片表面缺陷檢測(cè)研究
【文章頁(yè)數(shù)】:61 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
圖2-1缺陷檢測(cè)基本流程
7圖2-1缺陷檢測(cè)基本流程質(zhì)上是通過(guò)數(shù)字圖像處理等經(jīng)典方法找到感興趣區(qū)域(測(cè)的本質(zhì)是通過(guò)模式識(shí)別方法將輸入的訓(xùn)練集進(jìn)行訓(xùn)練為之后所有輸入樣本的分類器使用。所以磁片產(chǎn)品缺陷模塊和缺陷分類模塊。首先,訓(xùn)練模塊時(shí)輸入大量的訓(xùn)圖片中提取到感興趣區(qū)域(目標(biāo)磁片);提取的目標(biāo)圖理作為訓(xùn)練....
圖2-2M-P神經(jīng)元模型
浙江工業(yè)大學(xué)碩士學(xué)位論文時(shí),神經(jīng)元由“抑制”狀態(tài)激活成““興奮”狀態(tài)。McCulloch[23]等人提出了“M-P神經(jīng)元模型”,如圖2-2所示,神經(jīng)元接收來(lái)自多個(gè)帶有權(quán)重系數(shù)的上層神經(jīng)元輸入信號(hào),計(jì)算這些帶權(quán)重輸入信號(hào)之和,再與神經(jīng)元的閾值進(jìn)行比較,比較結(jié)果通過(guò)“激活函數(shù)”....
圖2-3含有單層隱藏層的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型
1)為學(xué)習(xí)率(learningrate),y為感知機(jī)的輸出信號(hào),直到預(yù)yy,或者達(dá)到人為設(shè)定結(jié)束要求,感知機(jī)不再進(jìn)行權(quán)重調(diào)二層神經(jīng)元組成,只在最后輸出層進(jìn)行激活函數(shù)的非線性處不強(qiáng),只能解決一般的線性可分問(wèn)題,已由Miller等人證明問(wèn)題,即可以找到一個(gè)線性超平面....
圖2-4經(jīng)典的lenet-5網(wǎng)絡(luò)
浙江工業(yè)大學(xué)碩士學(xué)位論文卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)不僅包含了卷積層,還包含了子采樣層和全連接層,并由它們構(gòu)成一個(gè)特征提取器。最經(jīng)典的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型由YannLecun等人提出[27],如圖2-4所示,不包括輸入層一共有7層,其中C1和C3是卷積層,對(duì)應(yīng)的特征圖(feat....
本文編號(hào):3983471
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