邊長、厚度、直角度、翹曲度等作為陶瓷磚的幾何量參數(shù),對于陶瓷磚的質(zhì)量評定有著至關(guān)重要的影響。根據(jù)國標(biāo)GB/T 3810.2-2016“陶瓷磚試驗方法-尺寸和表面質(zhì)量的檢驗”規(guī)定,質(zhì)量檢測部門對陶瓷磚進(jìn)行檢測的方法是使用規(guī)定的檢驗臺手工進(jìn)行,檢測流程繁瑣,效率低下,檢測精度不高。落后的檢測方法嚴(yán)重影響檢驗部門的工作效率,同時也制約我國陶瓷磚計量檢測部門瓷磚質(zhì)量檢測技術(shù)的發(fā)展。為了彌補(bǔ)檢測機(jī)構(gòu)檢測陶瓷磚方法的不足,本論文設(shè)計了一套多軸同步運(yùn)動控制技術(shù)與傳感器測試技術(shù)相結(jié)合的陶瓷磚幾何量參數(shù)測量裝置,并對其運(yùn)動控制系統(tǒng)進(jìn)行研究。文中對現(xiàn)有陶瓷磚檢測技術(shù)的優(yōu)缺點、自動化檢測裝置依據(jù)的運(yùn)動控制技術(shù)基礎(chǔ)及其發(fā)展,進(jìn)行了綜合論述分析;根據(jù)設(shè)計需求確定了陶瓷磚幾何量參數(shù)測量裝置的自動化運(yùn)動控制總體方案,詳細(xì)敘述了陶瓷磚幾何量參數(shù)測量裝置的運(yùn)動控制設(shè)計方法,運(yùn)動控制模塊的選型及使用,運(yùn)動控制程序的軟件設(shè)計;采用了與標(biāo)準(zhǔn)磚進(jìn)行比較的相對測量方法,通過標(biāo)準(zhǔn)磚與待測磚檢測時的傳感器讀數(shù)變化計算待測陶瓷磚幾何量參數(shù);利用同步運(yùn)動控制器和運(yùn)動誤差補(bǔ)償技術(shù),實現(xiàn)了瓷磚及位移傳感器的50μm級精確定位。文章最后對該測... 

【文章來源】：天津大學(xué)天津市 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：65 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

檢測原理平面

第2章陶瓷磚幾何量參數(shù)測量系統(tǒng)的總體方案設(shè)計9(2-4)對于厚度及表面平整度的測量，采用的是激光位移傳感器對徑掃描的方式，檢測示意圖如圖2-2所示。圖2-2對徑測量示意圖根據(jù)國標(biāo)，對于表面平整的磚，如圖2-3所示，陶瓷磚厚度定義為：沿陶瓷磚面上畫兩條對角線，取四條線段每段上最厚的點進(jìn)行測量，對于每塊試樣共測量4點，測量誤差不超過0.1mm[4]。陶瓷磚厚度：(2-5)圖2-3陶瓷磚厚度定義示意圖對于陶瓷磚表面平整度的檢測，如圖2-4所示，點f、i、g、h分別在距磚角點5mm處，點c、d、b、a在陶瓷磚側(cè)邊的中央，點e位于陶瓷磚中央。檢測陶瓷磚的表面平整度時，分別讓激光位移傳感器按照圖2方式對徑依次打在圖4的各點上，將檢測標(biāo)準(zhǔn)磚上側(cè)傳感器各點讀數(shù)命名為000000000a、b、c、d、e、f、g、h、i，下側(cè)傳感器各點讀數(shù)命名為11angel-100%nmsw=maxmaxmaxmax4T1T2+T3+T4T=+

第2章陶瓷磚幾何量參數(shù)測量系統(tǒng)的總體方案設(shè)計9(2-4)對于厚度及表面平整度的測量，采用的是激光位移傳感器對徑掃描的方式，檢測示意圖如圖2-2所示。圖2-2對徑測量示意圖根據(jù)國標(biāo)，對于表面平整的磚，如圖2-3所示，陶瓷磚厚度定義為：沿陶瓷磚面上畫兩條對角線，取四條線段每段上最厚的點進(jìn)行測量，對于每塊試樣共測量4點，測量誤差不超過0.1mm[4]。陶瓷磚厚度：(2-5)圖2-3陶瓷磚厚度定義示意圖對于陶瓷磚表面平整度的檢測，如圖2-4所示，點f、i、g、h分別在距磚角點5mm處，點c、d、b、a在陶瓷磚側(cè)邊的中央，點e位于陶瓷磚中央。檢測陶瓷磚的表面平整度時，分別讓激光位移傳感器按照圖2方式對徑依次打在圖4的各點上，將檢測標(biāo)準(zhǔn)磚上側(cè)傳感器各點讀數(shù)命名為000000000a、b、c、d、e、f、g、h、i，下側(cè)傳感器各點讀數(shù)命名為11angel-100%nmsw=maxmaxmaxmax4T1T2+T3+T4T=+


本文編號：3231935