隨著柔性制造技術(shù)在生產(chǎn)線上的廣泛應(yīng)用,生產(chǎn)線上的檢測系統(tǒng)也應(yīng)具備柔性要求。當(dāng)前生產(chǎn)線檢測設(shè)備為專用檢測設(shè)備,生產(chǎn)任務(wù)改變時(shí)只能繼續(xù)堆疊或重新開發(fā),這就導(dǎo)致生產(chǎn)線檢測系統(tǒng)體積臃腫,靈活性較差,柔性測試技術(shù)理念的提出為生產(chǎn)線柔性測試提供了新的解決方案。用于某類產(chǎn)品生產(chǎn)線的柔性檢測系統(tǒng)研制具有極大的工程應(yīng)用價(jià)值。本課題研制了一套用于生產(chǎn)線的柔性檢測系統(tǒng),采用網(wǎng)絡(luò)化檢測設(shè)備和分布式系統(tǒng)軟件相結(jié)合的方式搭建了具有適用性,靈活性,擴(kuò)展性的柔性檢測系統(tǒng)。根據(jù)對檢測系統(tǒng)需求分析,提出了系統(tǒng)設(shè)計(jì)總體方案,確定由網(wǎng)絡(luò)化組成的檢測設(shè)備配合H-JTP軟件平臺的系統(tǒng)組成方式,設(shè)計(jì)了系統(tǒng)軟件的架構(gòu)和在各個測試節(jié)點(diǎn)內(nèi)軟件的組成。完成了檢測設(shè)備的設(shè)計(jì),包括一體化結(jié)構(gòu)的鍵盤顯示器,電源分配板,嵌入式計(jì)算機(jī),集成儀器資源模塊,資源分配板。設(shè)計(jì)了具有儀器資源集成度高,測試量程寬的集成儀器資源模塊,采用DSP+FPGA組合使用的架構(gòu)。通過DSP處理對功能單元的控制和與嵌入式計(jì)算機(jī)的信息交互,通過FPGA處理功能電路的具體時(shí)序邏輯控制,并留有擴(kuò)展功能接口,減小了設(shè)備體積,提高了設(shè)備的擴(kuò)展能力;設(shè)計(jì)了直插式資源分配板代替了接口配... 

【文章來源】：哈爾濱工業(yè)大學(xué)黑龍江省 211工程院校 985工程院校

【文章頁數(shù)】：79 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

轉(zhuǎn)換時(shí)序圖[29]

哈爾濱工業(yè)大學(xué)工程碩士學(xué)位論文-23-圖3-10串行讀取操作圖[29]3.5.1.2DA激勵輸出DA激勵輸出功能電路圖如圖3-11所示，電路由DAC電路和放大電路組成。擁有4路任意波形輸出，峰峰值為±10V。DAC電路選用亞德諾公司生產(chǎn)的具有4路各輸出通道可獨(dú)立控制的DA芯片AD5754，該芯片具有16位串行輸入，單雙電源供電，可選輸出范圍（+5V、+10V、+10.8V、±5V、±10V或±10.8V），工作時(shí)鐘速率最高30MHz，雙極性輸出時(shí)輸入編碼可選二進(jìn)制補(bǔ)碼或偏移二進(jìn)制[30]。本設(shè)計(jì)中，AVSS選擇-15V，AVDD選擇+15V，DVCC選擇3.3V，REFIN選擇3V。將BIN/2sCOMP接至DVCC，編碼方式為偏移二進(jìn)制碼，其他所有控制引腳均接至FPGA。放大電路選用亞德諾公司LT1631，該芯片為4通道、軌至軌輸入和輸出運(yùn)算放大器，30MHz增益-帶寬乘積，10V/us的轉(zhuǎn)換速率，輸入失調(diào)電壓通常小于150μV，大輸出驅(qū)動電流等優(yōu)點(diǎn)。放大電路(LT1631FA)DA1DA0DA2SAGNDDA3DA控制電路(AD5754)控制線×6FPGADA控制邏輯±15V±15V3V圖3-11任意波形激勵輸出電路圖DA激勵輸出控制邏輯如圖3-12所示，主要是對SPI接口和兩個控制管腳進(jìn)行控制。其中，芯片的/SYNC引腳與SPI接口的CS相連。控制時(shí)序如圖3-13所示，通過控制SPI邏輯控制芯片功能，邏輯每次傳輸24位寬的數(shù)據(jù)。

哈爾濱工業(yè)大學(xué)工程碩士學(xué)位論文-24-SPI邏輯AD5754VoutASISO/SYNC/CLRSCLK/LDACFPGA分頻器內(nèi)部時(shí)鐘clkVoutBVoutCVoutDSIG_GNDED[15:0]譯碼邏輯RstSendClrReadLoadEA[22:3]圖3-12DA激勵輸出控制邏輯圖圖3-13DA控制時(shí)序圖[31]數(shù)據(jù)格式如表3-3所示。數(shù)據(jù)包括一位讀寫位，一位保留位且必須為0，三位寄存器控制位，用于控制AD5754內(nèi)部的DAC寄存器、輸出范圍選擇寄存器、功率控制寄存器和控制寄存器。三位地址位用于選擇控制單一通道或全部DAC通道，十六位數(shù)據(jù)位。具體每個寄存器的功能控制字此處不再贅述。表3-3DA數(shù)據(jù)格式DB23DB22DB21DB20DB19DB18DB17DB16DB15-DB0R/W0REG2REG1REG0A2A1A0Data芯片管腳/LDAC用來更新DAC寄存器狀態(tài)來控制模擬輸出，與同型號其

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
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[2]基于虛擬儀器的變頻器柔性測試技術(shù)研究[D]. 許超.中國礦業(yè)大學(xué) 2016
[3]飛機(jī)柔性裝配自動化鉆孔控制技術(shù)研究[D]. 戴家隆.南京航空航天大學(xué) 2013



本文編號：2948262