基于深度強化學(xué)習(xí)的哈特曼傳感器標(biāo)定優(yōu)化技術(shù)研究
【學(xué)位單位】:中國科學(xué)院大學(xué)(中國科學(xué)院光電技術(shù)研究所)
【學(xué)位級別】:博士
【學(xué)位年份】:2019
【中圖分類】:TP212;TP391.41
【部分圖文】:
波前探測技術(shù)夏克哈特曼波前傳感器是一種精密的波前探測儀器,廣泛應(yīng)用于各種光學(xué)文圍繞夏克哈特曼波前傳感器在自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)中的標(biāo)定優(yōu)化,開展了的工作。其中波前和波前探測是研究本論題時需要了解的最基本的概念首先圍繞這兩個概念展開論述。 波前及波前探測技術(shù)原理.1 波前針對波前,本小節(jié)將從幾何光學(xué)[1,2]和波動光學(xué)[3,4]的角度分別闡述。幾何光學(xué)中,將光的傳播看作矢量光線,最直觀的例子就是影子的形成和像現(xiàn)象[5](如圖 1.1 所示)。在對這些現(xiàn)象進(jìn)行分析時,一束光被看作由無向直線組成。
0U u exp( w r) 2w 代表光波的矢向量, 為波長; 表示光程的矢向量的相位[3-5]。根據(jù)以上定義,在波動光學(xué)理論中,波前代表了前探測技術(shù)波前的基本概念后,本小節(jié)主要簡述了波前探測技術(shù)原理勻介質(zhì)中傳播時,波前相位信息可以反映光程的不同。根據(jù)測目標(biāo)表面信息。如圖 1.2,在同種均勻介質(zhì)中,等相位的反射后,波面形成了一定光程差,因此,反射波面包含了目息。
第一章 緒論1.1.2 現(xiàn)有波前探測技術(shù)波前探測器按波前探測技術(shù)的不同,可分為基于干涉技術(shù)的波前探測器、基于斜率測量的夏克哈特曼波前傳感器和其他波前探測器。1.1.2.1 基于干涉技術(shù)的波前探測器基于干涉技術(shù)的波前探測器,通過干涉技術(shù)復(fù)原被測波前。主要指干涉儀,包括徑向剪切干涉儀(圖 1.3(a))、四波橫向剪切干涉儀(圖 1.3(b)),點衍射干涉儀(圖 1.3(c))等[6-9]。由于大部分干涉儀面臨硬件結(jié)構(gòu)相對復(fù)雜、光能利用率較低等限制,在實時波前探測領(lǐng)域中逐漸被其他技術(shù)替代。由于這部分不是本文主要內(nèi)容,在此只做簡單的介紹。
【相似文獻(xiàn)】
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本文編號:2836708
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