本文關(guān)鍵詞：緊聚焦徑向偏振倏逝場的測量

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【摘要】：基于徑向偏振光束的全內(nèi)反射熒光顯微成像具有更高的成像分辨率,探究其倏逝場的強度分布規(guī)律是實現(xiàn)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計和優(yōu)化的關(guān)鍵�；谑噶垦苌淅碚�,推導(dǎo)了聚焦的徑向偏振倏逝場的數(shù)學(xué)表達式,進行了理論計算,并基于掃描近場光學(xué)顯微鏡搭建了實驗系統(tǒng),測試了倏逝場的強度分布,驗證了理論分析。測試結(jié)果表明,聚焦的徑向偏振光束產(chǎn)生的倏逝場在橫向及軸向都具有非常高的分辨率,在可見光波長范圍內(nèi),光斑橫向半高全寬度在100~200nm范圍,軸向半高全寬度在40~80nm范圍,突破了衍射極限,證明了該類型倏逝場在全內(nèi)反射熒光顯微成像領(lǐng)域巨大的應(yīng)用價值,也為接下來的系統(tǒng)改進提供了技術(shù)支持。
【作者單位】： 北京信息科技大學(xué)光電測試技術(shù)北京市重點實驗室;
【關(guān)鍵詞】： 全內(nèi)反射熒光顯微成像 徑向偏振光 倏逝場 掃描近場光學(xué)顯微鏡
【基金】：國家自然科學(xué)基金(61108047;61475021) 教育部新世紀(jì)優(yōu)秀人才支持計劃(NCET-13-0667) 北京市青年拔尖人才支持計劃(CIT&TCD201404113)
【分類號】：TH742
【正文快照】： 全內(nèi)反射熒光顯微鏡(Total Internal ReflectionMicroscopy,TIRF)是一種用于薄樣品(通常小于200nm)觀測的一種成像技術(shù)[1]。該技術(shù)使用倏逝場在軸向范圍內(nèi)非常薄的區(qū)域內(nèi)激發(fā)熒光,可以實現(xiàn)細胞表層高分辨率成像,這對于研究很多發(fā)生在細胞或分子表層的生命活動具有非常重要的價，

本文編號：819898