采樣點(diǎn)分布對(duì)基于面形斜率徑向基模型的自由曲面擬合精度的影響
發(fā)布時(shí)間:2017-09-06 09:14
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【摘要】:鑒于自由曲面模型的面形擬合精度在自由曲面表征以及面形初始結(jié)構(gòu)選取等研究中的重要性,本文針對(duì)基于面形斜率的高斯徑向基表征模型,研究了不同的采樣點(diǎn)分布類型對(duì)該模型面形擬合精度的影響。采用不同采樣點(diǎn)分布擬合離軸二次曲面和帶凸起的拋物面,結(jié)果表明采用均勻隨機(jī)分布的采樣點(diǎn)有利于實(shí)現(xiàn)高精度的面形擬合,且達(dá)到一定的擬合精度后,采樣點(diǎn)的數(shù)目對(duì)擬合精度的影響有限。以離軸三反系統(tǒng)為設(shè)計(jì)實(shí)例,對(duì)比了由不同采樣方式生成初始面形后系統(tǒng)的像質(zhì)優(yōu)化結(jié)果。結(jié)果顯示,采用均勻隨機(jī)型采樣方式得到的初始面形進(jìn)行系統(tǒng)優(yōu)化,最終全視場(chǎng)平均調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)可以達(dá)到0.72以上,遠(yuǎn)高于由邊緣集中采樣方式生成初始面形后系統(tǒng)像質(zhì)的優(yōu)化結(jié)果,從而印證了理論研究結(jié)果。
【作者單位】: 南開(kāi)大學(xué)現(xiàn)代光學(xué)研究所光學(xué)信息技術(shù)科學(xué)教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所光學(xué)系統(tǒng)先進(jìn)制造技術(shù)中國(guó)科學(xué)院重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【關(guān)鍵詞】: 光學(xué)設(shè)計(jì) 自由曲面 擬合精度 采樣點(diǎn)分布
【基金】:國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(No.11474169) 中科院科技創(chuàng)新基金重點(diǎn)項(xiàng)目 天津市應(yīng)用基礎(chǔ)與前沿技術(shù)研究計(jì)劃資助項(xiàng)目(No.15JCYBJC16900)
【分類號(hào)】:TH74
【正文快照】: 2.中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所光學(xué)系統(tǒng)先進(jìn)制造技術(shù)中國(guó)科學(xué)院重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,吉林長(zhǎng)春130033)(1.Institute of Modern Optics,Key Laboratory of Optical Information Science and Technology,Ministry of Education,Nankai University,Tianjin300071,China;2.Key L
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1 孟慶恩;;X射線散射因子的實(shí)用解析表達(dá)式[J];物理測(cè)試;1987年02期
,本文編號(hào):802254
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