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基于空間光調(diào)制器的結構探測共焦橫向超分辨方法研究

發(fā)布時間:2017-09-02 03:21

  本文關鍵詞:基于空間光調(diào)制器的結構探測共焦橫向超分辨方法研究


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【摘要】:共焦顯微系統(tǒng)的點探測使其在橫向上產(chǎn)生“1.4倍”的分辨率提高,但實際針孔尺寸不可能無限小。另外,為了滿足信噪比的要求,針孔尺寸越大越好,造成共焦顯微系統(tǒng)橫向分辨率的迅速降低。因此,在實際的共焦顯微系統(tǒng)中,理論值“1.4倍”難以實現(xiàn),如何在有限尺寸探測針孔的共焦顯微系統(tǒng)中提高橫向分辨率是共焦顯微領域諸多學者一直關注的問題。本課題針對上述問題,提出一種基于空間光調(diào)制器的結構探測共焦橫向超分辨方法,在現(xiàn)有結構探測方法上進行改進和突破,實現(xiàn)在大針孔共焦顯微系統(tǒng)中高分辨率、快速成像。主要目的和意義在于:一方面采用結構探測方法實現(xiàn)在大針孔共焦顯微系統(tǒng)中兼顧分辨率與信噪比,并且改進現(xiàn)有結構探測方法中的解調(diào)與重構過程,使結構探測方法的實施更加簡單、易操作;另一方面,采用空間光調(diào)制器實現(xiàn)結構探測過程,避開CCD探測器的限速作用,使系統(tǒng)的探測速度得到有效提高。課題主要內(nèi)容如下:首先,基于共焦顯微系統(tǒng)相干成像理論,對結構探測方法的超分辨原理進行理論驗證。針對結構探測函數(shù)中影響系統(tǒng)分辨率特性的主要參數(shù)進行仿真分析,得到改進的結構探測函數(shù);并從系統(tǒng)點擴散函數(shù)及相干傳遞函數(shù)的角度對結構探測方法超分辨特性進行仿真驗證。其次,基于系統(tǒng)截止頻率及強度點擴散函數(shù)半高全寬的分辨率評價方法,得到了在有限大小探測針孔尺寸的共焦顯微系統(tǒng)中引入結構探測方法后,橫向分辨率可提高到同等大小探測針孔尺寸基本共焦顯微系統(tǒng)的1.8倍,是理想共焦顯微系統(tǒng)分辨率的1.3倍。最后,設計并搭建實驗裝置,進行理論驗證。搭建虛擬結構探測共焦顯微系統(tǒng)實驗裝置,對改進后的結構探測函數(shù)能夠提高系統(tǒng)橫向分辨率的理論正確性進行驗證,并得到虛擬結構探測實驗系統(tǒng)的探測效率。搭建基于空間光調(diào)制器的結構探測共焦顯微系統(tǒng)實驗裝置,分別對系統(tǒng)橫向超分辨特性以及系統(tǒng)探測效率的提高進行實驗驗證。實驗結果表明,本課題提出的基于空間光調(diào)制器的結構探測共焦橫向超分辨方法,在實際的共焦顯微系統(tǒng)中實現(xiàn)了橫向分辨率1.6倍的提高;同時,采用空間光調(diào)制器模擬結構探測函數(shù)分布,將結構探測方法硬件化,相比于虛擬結構探測實驗方法,其有效探測速率提升為33倍。
【關鍵詞】:共焦顯微系統(tǒng) 橫向分辨率 結構探測方法 空間光調(diào)制器
【學位授予單位】:哈爾濱工業(yè)大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2016
【分類號】:TH742
【目錄】:
  • 摘要4-5
  • Abstract5-9
  • 第1章 緒論9-19
  • 1.1 課題研究的背景及意義9
  • 1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀及分析9-17
  • 1.2.1 結構探測超分辨方法的研究現(xiàn)狀10-16
  • 1.2.2 液晶空間光調(diào)制器的發(fā)展現(xiàn)狀16-17
  • 1.3 本文主要研究內(nèi)容17-19
  • 第2章 結構探測共焦超分辨方法的原理分析19-36
  • 2.1 引言19
  • 2.2 共焦顯微系統(tǒng)相干成像理論19-27
  • 2.2.1 薄透鏡的相干成像理論20-22
  • 2.2.2 共焦顯微系統(tǒng)相干成像原理分析22-23
  • 2.2.3 共焦顯微系統(tǒng)相干傳遞函數(shù)23-24
  • 2.2.4 共焦顯微系統(tǒng)針孔對分辨率的影響24-27
  • 2.3 結構探測共焦顯微超分辨原理分析27-35
  • 2.3.1 結構探測共焦顯微系統(tǒng)的點擴散函數(shù)28-29
  • 2.3.2 結構探測共焦顯微系統(tǒng)的相干傳遞函數(shù)29-32
  • 2.3.3 影響結構探測共焦超分辨特性的主要參數(shù)分析32-35
  • 2.3.3.1 探測針孔大小對系統(tǒng)特性的影響32-34
  • 2.3.3.2 結構探測函數(shù)的直流偏置對結構探測特性的影響34
  • 2.3.3.3 結構探測函數(shù)的頻率對結構探測特性的影響34-35
  • 2.4 本章小結35-36
  • 第3章 分辨率評價方法及空間光調(diào)制器的基本原理36-45
  • 3.1 引言36
  • 3.2 相干成像系統(tǒng)的分辨率評價36-40
  • 3.2.1 截止頻率評價方法36-37
  • 3.2.2 兩點分辨評價方法37-39
  • 3.2.3 半高全寬評價方法39-40
  • 3.2.4 系統(tǒng)分辨率評價方法小結40
  • 3.3 液晶空間光調(diào)制器的調(diào)制原理40-44
  • 3.4 本章小結44-45
  • 第4章 實驗系統(tǒng)設計與驗證45-76
  • 4.1 引言45-49
  • 4.1.1 系統(tǒng)控制程序45-47
  • 4.1.2 關鍵實驗器件47-48
  • 4.1.3 實驗系統(tǒng)的理論指標48-49
  • 4.2 基本共焦掃描顯微系統(tǒng)實驗49-53
  • 4.2.1 實驗系統(tǒng)設計49-50
  • 4.2.2 實驗搭建及實驗結果分析50-53
  • 4.3 基于CCD的虛擬結構探測共焦超分辨實驗53-60
  • 4.3.1 實驗系統(tǒng)設計53-54
  • 4.3.2 實驗系統(tǒng)搭建及實驗結果分析54-60
  • 4.3.2.1 實驗結果及分析55-59
  • 4.3.2.2 虛擬結構探測共焦超分辨實驗結果小結59-60
  • 4.4 基于空間光調(diào)制器的結構探測共焦超分辨系統(tǒng)實驗60-75
  • 4.4.1 基于SLM的結構探測共焦顯微系統(tǒng)實驗系統(tǒng)設計60
  • 4.4.2 空間光調(diào)制器的調(diào)制特性測試60-68
  • 4.4.2.1 空間光調(diào)制器的振幅調(diào)制特性測試61-64
  • 4.4.2.2 空間光調(diào)制器對艾里斑的調(diào)制效果測試64-67
  • 4.4.2.3 空間光調(diào)制器的調(diào)制特性測定實驗小結67-68
  • 4.4.3 基于SLM的結構探測共焦顯微實驗系統(tǒng)搭建及實驗結果分析68-75
  • 4.4.3.1 實驗系統(tǒng)搭建68-70
  • 4.4.3.2 實驗結果及分析70-74
  • 4.4.3.3 基于SLM的結構探測共焦超分辨實驗總結74-75
  • 4.5 本章小結75-76
  • 結論76-78
  • 參考文獻78-81
  • 攻讀碩士學位期間發(fā)表的學術論文及其它成果81-83
  • 致謝83

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8 徐克t,

本文編號:776092


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