激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀器測控系統(tǒng)研制
本文關(guān)鍵詞:激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀器測控系統(tǒng)研制
更多相關(guān)文章: 激光誘導(dǎo)擊穿光譜 插件式 測控系統(tǒng) 過程優(yōu)化 延時(shí)器 自動(dòng)化 迭代式
【摘要】:激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)儀器作為一種重要的元素分析儀器,其廣闊的應(yīng)用領(lǐng)域,,準(zhǔn)確、快速的檢測手段將促進(jìn)整個(gè)測試分析領(lǐng)域檢測水平的提高。本文針對(duì)LIBS測控系統(tǒng)進(jìn)行深入研究。結(jié)合插件式設(shè)計(jì)框架完成測控系統(tǒng)硬件平臺(tái)及軟件平臺(tái)設(shè)計(jì),提高了測控系統(tǒng)對(duì)不同類型部件的兼容性;研制了LIBS儀器專屬的小型化延時(shí)器,在滿足LIBS儀器延時(shí)需求的基礎(chǔ)上,縮小延時(shí)器體積和重量,為儀器便攜式發(fā)展奠定基礎(chǔ);優(yōu)化測控過程中延時(shí)時(shí)間和激光能量耦合效率等參數(shù),提出一種基于單光束分束的LIBS技術(shù),延長了等離子體信號(hào)的生存周期,提高了信號(hào)強(qiáng)度,為儀器降低檢出限提供基礎(chǔ),并針對(duì)測控過程優(yōu)化實(shí)驗(yàn),提出一種自動(dòng)化的多層迭代式實(shí)驗(yàn)方法,提高參數(shù)優(yōu)化的效率;集成測控系統(tǒng),并進(jìn)行金屬樣品定性分析的實(shí)際應(yīng)用,此外,該測控系統(tǒng)成功集成于臺(tái)式LIBS樣機(jī)、便攜式LIBS樣機(jī)以及激光誘導(dǎo)擊穿-拉曼光譜聯(lián)用樣機(jī)中。
【關(guān)鍵詞】:激光誘導(dǎo)擊穿光譜 插件式 測控系統(tǒng) 過程優(yōu)化 延時(shí)器 自動(dòng)化 迭代式
【學(xué)位授予單位】:吉林大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:博士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類號(hào)】:TH744.1
【目錄】:
- 提要4-5
- 摘要5-8
- Abstract8-16
- 第1章 緒論16-32
- 1.1 研究背景16-19
- 1.1.1 選題背景及意義16-17
- 1.1.2 激光誘導(dǎo)擊穿光譜技術(shù)背景17-19
- 1.2 國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀19-29
- 1.2.1 激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀器設(shè)備組成19-25
- 1.2.2 激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀器測控系統(tǒng)研究現(xiàn)狀及存在問題25-29
- 1.3 本文的主要研究內(nèi)容29-32
- 第2章 激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀測控系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)32-60
- 2.1 引言32-33
- 2.2 總體方案33-36
- 2.2.1 測控系統(tǒng)需求分析33-34
- 2.2.2 測控系統(tǒng)總體設(shè)計(jì)34-36
- 2.3 硬件研制36-41
- 2.3.1 主控設(shè)備選型36-40
- 2.3.2 接口適配器研制40-41
- 2.4 軟件開發(fā)41-59
- 2.4.1 插件式應(yīng)用框架技術(shù)41-44
- 2.4.2 部件控制模塊開發(fā)44-51
- 2.4.3 輔助模塊開發(fā)51-54
- 2.4.4 部件特征參數(shù)提取及插件接口制定54-58
- 2.4.5 軟件集成58-59
- 2.5 本章小結(jié)59-60
- 第3章 激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀延時(shí)器的研制60-84
- 3.1 引言60-62
- 3.2 總體設(shè)計(jì)62-64
- 3.3 信號(hào)整形64-66
- 3.4 數(shù)字延時(shí)66-69
- 3.4.1 晶振的選擇66-67
- 3.4.2 數(shù)字延時(shí)的實(shí)現(xiàn)67-69
- 3.5 模擬延時(shí)69-72
- 3.5.1 恒流源充電電路設(shè)計(jì)70-72
- 3.5.2 輸出驅(qū)動(dòng)及延時(shí)精度分析72
- 3.6 抖動(dòng)補(bǔ)償72-75
- 3.6.1 抖動(dòng)的原理72-74
- 3.6.2 抖動(dòng)補(bǔ)償設(shè)計(jì)74-75
- 3.7 邏輯控制及延時(shí)校準(zhǔn)75-78
- 3.7.1 NIOS II 介紹75-76
- 3.7.2 邏輯控制76-77
- 3.7.3 延時(shí)校準(zhǔn)77-78
- 3.8 實(shí)驗(yàn)測試78-83
- 3.8.1 輸出信號(hào)測試80-81
- 3.8.2 固有延時(shí)測試81-82
- 3.8.3 延時(shí)精度測試82-83
- 3.9 本章小結(jié)83-84
- 第4章 激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀測控系統(tǒng)集成與測試84-92
- 4.1 引言84
- 4.2 測控系統(tǒng)集成84-86
- 4.3 測控系統(tǒng)測試86-90
- 4.3.1 測試條件86-87
- 4.3.2 兼容性測試87
- 4.3.3 功能測試87-90
- 4.3.4 穩(wěn)定性測試90
- 4.4 本章小結(jié)90-92
- 第5章 激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀測控過程優(yōu)化研究92-120
- 5.1 引言92-94
- 5.2 延時(shí)時(shí)間優(yōu)化研究94-100
- 5.2.1 等離子體基本特性94-97
- 5.2.2 延時(shí)時(shí)間對(duì)等離子體信號(hào)的作用97-100
- 5.3 激光能量耦合效率優(yōu)化研究100-115
- 5.3.1 激光與物質(zhì)作用原理100-103
- 5.3.2 實(shí)驗(yàn)裝置與方法103-105
- 5.3.3 結(jié)果與討論105-115
- 5.4 多層迭代式實(shí)驗(yàn)方法研究115-119
- 5.4.1 常見的參數(shù)優(yōu)化實(shí)驗(yàn)方法115-116
- 5.4.2 多層迭代式實(shí)驗(yàn)方法的設(shè)計(jì)116-117
- 5.4.3 多層迭代式實(shí)驗(yàn)方法的測試117-119
- 5.5 本章小結(jié)119-120
- 第6章 激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀測控系統(tǒng)應(yīng)用研究120-124
- 6.1 引言120
- 6.2 金屬樣品定性分析應(yīng)用120-121
- 6.3 儀器集成應(yīng)用121-122
- 6.4 本章小結(jié)122-124
- 第7章 全文總結(jié)124-128
- 7.1 主要研究成果及創(chuàng)新性工作124-125
- 7.2 存在的問題及下一步工作建議125-128
- 參考文獻(xiàn)128-142
- 作者簡介及攻博期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文與科研成果142-144
- 致謝144
【參考文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):594107
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