本文關(guān)鍵詞：X射線測(cè)厚儀刻度校正模型的研究

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【摘要】：本文提出了新的模型來描述X射線測(cè)厚儀中射線在穿過被測(cè)物質(zhì)時(shí)的衰減規(guī)律。利用已知厚度的若干標(biāo)定片的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)點(diǎn),針對(duì)不同數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)量、不同數(shù)據(jù)點(diǎn)分布等多種情況,對(duì)比此模型和其他文獻(xiàn)中的刻度校正模型。結(jié)果表明,由此模型計(jì)算的衰減曲線與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)符合良好,且當(dāng)標(biāo)定數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)量減少及分布改變時(shí),此模型仍具有較高的精度,誤差的穩(wěn)定性超過其他模型。
【作者單位】： 清華大學(xué)核能與新能源技術(shù)研究院;
【關(guān)鍵詞】： X射線 測(cè)厚儀 刻度校正 衰減模型
【分類號(hào)】：TH821.1;O434.19
【正文快照】： X射線測(cè)厚儀在冶金行業(yè)板帶材生產(chǎn)的厚度質(zhì)量控制中得到廣泛使用,其測(cè)量控制精度的高低將直接影響產(chǎn)品的質(zhì)量等級(jí)。當(dāng)X射線穿過被測(cè)物質(zhì)時(shí),射線與物質(zhì)的相互作用使透射射線強(qiáng)度減弱,當(dāng)其他條件固定時(shí),透射射線強(qiáng)度由被測(cè)物質(zhì)厚度唯一決定,若已知射線的衰減規(guī)律,通過測(cè)量透射射

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