本文關鍵詞：三角形電極離子阱的理論模擬及性能優(yōu)化

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【摘要】：作為一種新型結構的線性離子阱,三角形電極離子阱(TeLIT)具有簡單的電極結構與良好的分析性能。為進一步提高TeLIT的質譜性能,本研究考察了TeLIT的性能與電極結構的關系。利用模擬軟件SIMION和AXSIM分析TeLIT場半徑比與其內(nèi)部電場分布的關系,并模擬離子運動軌跡,得出模擬離子質譜峰。理論模擬結果表明:優(yōu)化場半徑比可以改善內(nèi)部電場分布,并能顯著提高TeLIT的質量分辨率。最終模擬得出場半徑比r_x/r_y=5.75∶5時為最優(yōu)結構,在該結構下,m/z為1892 Th的離子在掃描速率為1500 Th/s時,質量分辨率可以達到8287;掃描速率降為300 Th/s時,最高質量分辨率可達23000。
【作者單位】： 蘇州大學機電工程學院;上海衛(wèi)星裝備研究所;
【關鍵詞】： 三角形電極離子阱 理論模擬 質量分辨率 電場優(yōu)化
【基金】：江蘇省自然科學基金項目(BK20140340) 蘇州大學青年自然科學基金項目(SDY2013A11)資助~~
【分類號】：TH843
【正文快照】： 1引言離子阱質量分析器具有結構簡單、對真空度要求低、靈敏度高、檢測質量范圍大,且能實現(xiàn)多級串聯(lián)質譜分析等優(yōu)點[1],是實現(xiàn)質譜儀小型化的最佳選擇[2]。離子阱的分析性能對其電極形狀的依賴很大,因此近年來改變離子阱電極的形狀和位置來優(yōu)化其性能的研究越來越引起重視[3]

【相似文獻】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前2條

1 王洪奇,黃舜彥;ESQUIRE-LC離子阱LC/MS~n[J];現(xiàn)代儀器使用與維修;1999年02期

2 ;[J];;年期

，

本文編號：560280