超高真空非接觸式原子力顯微鏡近年來飛速發(fā)展,在表面物理探測領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。其中短程化學(xué)力的定量測量對剖析物質(zhì)特性及反應(yīng)機理方面有著重要意義,是實現(xiàn)顯微鏡原子分辨率的關(guān)鍵要素。為精確測量短程化學(xué)力,基于球錐探針模型從理論上推導(dǎo)了頻率偏移（Δf）與原子間總作用力(F_ts)的轉(zhuǎn)換關(guān)系,并分析作用力成分推導(dǎo)短程力求解算法。實驗中,頻率偏移譜由漢明窗濾波后根據(jù)Δf-F_ts方程解算得到總力譜(F_ts-z),對其擬合并剔除長程力以精確求解短程力譜(F_short-z),并積分得到勢能譜。本文以Si（111）-（7×7）表面為實驗研究對象驗證算法可行性。

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【文章目錄】：
1 短程化學(xué)力提取原理
    1.1 原子間作用力解算
    1.2 短程化學(xué)力解算
        (1)原子間作用力組成
        (2)短程化學(xué)力提取
2 實驗
3 結(jié)果與討論
4 總結(jié)



本文編號：4011959