紅外焦平面探測器的光譜一致性是評價材料制備水平的重要參數之一。探測器材料因制備工藝的不同而存在差異。由于光譜儀光斑尺寸的限制、探測器杜瓦結構的局限性以及設備采集光譜的巨大數據量,難以對探測器組件的光譜一致性進行測試分析。為此提出了一種新方法,即選取用傳統(tǒng)工藝和優(yōu)化工藝制備的兩種探測器樣品,并選取成像圖中與工藝相關的多個明暗特征區(qū)域,再測試這些區(qū)域的光譜曲線并對其進行分析匯總,然后通過比較光譜最大差異來評判探測器光譜一致性的優(yōu)劣。該方法測得兩種探測器特征區(qū)域的光譜最大差異分別為1.21■m和0.30■m。測試結果表明,優(yōu)化工藝后的光譜一致性優(yōu)于傳統(tǒng)工藝。

【文章頁數】：5 頁

【文章目錄】：
0 引言
1 測試系統(tǒng)
    1.1 光譜儀的選擇
    1.2 測試系統(tǒng)構成
    1.3 測試過程
        1.3.1 通常情況下的光譜一致性測試
2 光譜一致性測試
    2.1 光譜一致性測試方法的確立
    2.2 典型工藝材料組件的選取
    2.3 特征區(qū)域選取及光譜數據采集
    2.4 光譜一致性評價
3 結果分析
4 總結



本文編號：3834179