本論文通過理論分析光電自準(zhǔn)直儀工作原理、國(guó)內(nèi)外相關(guān)產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)等,對(duì)其關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行進(jìn)一步研究,并設(shè)計(jì)了滿足技術(shù)指標(biāo)的光學(xué)系統(tǒng),開展了光電自準(zhǔn)直儀中的抗背景光干擾技術(shù)的研究,最終采用了兩種不同的方法提高光電自準(zhǔn)直儀在有背景光干擾情況下的測(cè)量精度,并做了相應(yīng)的仿真模擬與實(shí)驗(yàn)測(cè)量。光電自準(zhǔn)直儀是一種高精密小角度測(cè)量?jī)x器,廣泛應(yīng)用于計(jì)量測(cè)量、科研生產(chǎn)與工業(yè)技術(shù)領(lǐng)域,國(guó)外一些產(chǎn)品的技術(shù)發(fā)展已經(jīng)趨于成熟,而國(guó)內(nèi)多數(shù)的光電自準(zhǔn)直儀是基于國(guó)外先進(jìn)儀器建立的,已經(jīng)能夠達(dá)到基本精度要求,多數(shù)在無干擾情況下使用時(shí)精度符合要求,但在受到太陽光、燈光等的干擾時(shí),這些因素會(huì)導(dǎo)致光電自準(zhǔn)直儀測(cè)量精度一定程度的下降,情況嚴(yán)重時(shí)甚至無法正常工作。因此研究光電自準(zhǔn)直儀的抗干擾技術(shù),提高光電自準(zhǔn)直儀的抗干擾能力具有非常重要的意義。本論文的主要研究?jī)?nèi)容為:（1）介紹光電自準(zhǔn)直儀的工作原理與關(guān)鍵技術(shù),分析了不同光電自準(zhǔn)直儀光學(xué)系統(tǒng)的特點(diǎn),最終采用綜合型光電自準(zhǔn)直儀光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行研究;（2）使用Zemax進(jìn)行光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與仿真,優(yōu)化焦距和參數(shù),得到測(cè)量精度為0.05″的光電自準(zhǔn)直儀光學(xué)系統(tǒng)。分析了影響光電自準(zhǔn)直儀測(cè)量精度的原因,... 

【文章來源】：電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：66 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

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準(zhǔn)直物鏡口徑設(shè)置

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號(hào)：3083366