為了快速評(píng)估出微機(jī)械陀螺的振動(dòng)性能參數(shù),結(jié)合ASIC探針卡,NI數(shù)據(jù)采集卡,半自動(dòng)探針臺(tái)和軟件實(shí)現(xiàn)了圓片級(jí)自動(dòng)測(cè)試,判斷出陀螺是否能正常振蕩。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該圓片級(jí)在片自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)能準(zhǔn)確的測(cè)量出芯片的振動(dòng)性能,快速準(zhǔn)確的反映出工藝能力,且實(shí)現(xiàn)圓片級(jí)挑選出不同等級(jí)性能的陀螺芯片,對(duì)陀螺的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)加工具有重要的促進(jìn)作用。 

【文章來(lái)源】：數(shù)字技術(shù)與應(yīng)用. 2020,38(04)

【文章頁(yè)數(shù)】：2 頁(yè)

【部分圖文】：

Labview上位機(jī)界

本文正是基于此開(kāi)展研究,通過(guò)ASIC電路探卡,數(shù)據(jù)采集卡實(shí)現(xiàn)圓片在片自動(dòng)測(cè)試。文獻(xiàn)[4]對(duì)微機(jī)械陀螺的測(cè)試與標(biāo)定技術(shù)進(jìn)行了詳細(xì)的原理性的介紹與分析,為陀螺的性能測(cè)試方法提供了較好的參考。本文在南理工老師的幫助下,利用LabVIEW的處理模塊來(lái)實(shí)現(xiàn)信號(hào)解調(diào),實(shí)現(xiàn)圓片級(jí)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試出陀螺的動(dòng)態(tài)振動(dòng)性能,直觀的反映出芯片的正交耦合。圖2 Labview上位機(jī)界

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]微機(jī)械陀螺測(cè)試與標(biāo)定技術(shù)研究[J]. 楊金顯,袁贛南,徐良臣.  傳感技術(shù)學(xué)報(bào). 2006(05)



本文編號(hào)：3060768