光柵投影測量系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)工件的三維重建,但是由于孔洞、凸起缺陷的特殊性,在進行圖像采集的過程中,易造成陰影區(qū)域的產(chǎn)生,影響數(shù)據(jù)的采集,從而造成工件表面孔洞的重建精度較低的現(xiàn)象,為了解決這個問題,本文通過分析工件孔洞的特征以及光柵投影測量原理,提出使用雙投影的光柵投影三維測量方法進行孔洞缺陷的三維重建,對表面含有孔洞的工件進行了工件厚度和孔洞尺寸的檢測,為提高孔洞重建精度奠定了基礎。由于受到工件厚度的影響,在孔洞的邊緣會產(chǎn)生陰影,從而影響重建的工件孔洞精度,本文提出使用雙投影的光柵投影法,通過對陰影區(qū)域的判定,并對其進行二值化,以雙投影進行三維重建的數(shù)據(jù)為基礎,對陰影區(qū)域的數(shù)據(jù)進行填充,并對填充后陰影區(qū)域數(shù)據(jù)與非陰影區(qū)域數(shù)據(jù)進行數(shù)據(jù)融合,實現(xiàn)對工件表面孔洞的三維重建。分析了影響測量系統(tǒng)精度的因素,并對主要的影響因素（光柵頻率的選取、投影儀的投射角度）進行分析討論,選定合適的參數(shù)范圍來提高系統(tǒng)的測量精度。通過對不同孔洞的測量,得出本文提出的測量系統(tǒng)的測量精度,對工件厚度的精度能達到0.05mm,孔洞直徑測量精度達到0.1mm。 

【文章來源】：中北大學山西省

【文章頁數(shù)】：80 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

JAICCD工業(yè)相機AB800-GE

2.5 JAI CCD 工業(yè)相機 AB800-GE）計算得到：L *UfFOV= 面的距離，U 表示參考面的長D 相機的參數(shù)可知， U = 4.8，通過計算可得鏡頭的焦距為 7作為選擇鏡頭的標準，所以，本 f 5mm，如圖 2.6 所示：

中北大學學位論文投影設備有以下優(yōu)勢：調(diào)節(jié)方便：可以自由改變條紋周期、強度簡單。統(tǒng)主要實現(xiàn)對相位信息的獲取，采集的圖像為黑白條紋圖，所以較低，但對采集圖像的黑白對比度以及投射到待測無表面的亮度述因素，本論文選擇了 SONY 公司的 VPL-EW275 型 LCD 投影僅能調(diào)節(jié)亮度和對比度，也能調(diào)節(jié)不同顏色亮度級的伽馬模式。參考面的大小計算得到投影儀的最小分辨率應為1500dpi，而此數(shù)率達到 1600 × 1200 ( dpi)，重4.1kg，投影畫面尺寸30-300英寸，還足實際測量需要。如圖 2.7 所示：

【參考文獻】：
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本文編號：3035804