基于短相干光源的動(dòng)態(tài)斐索干涉儀及其關(guān)鍵技術(shù)研究
【學(xué)位單位】:南京理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位年份】:2018
【中圖分類(lèi)】:TH744.3
【部分圖文】:
該系統(tǒng)中的光強(qiáng)畸變誤差和移相誤差對(duì)最終測(cè)量結(jié)果的影響。逡逑2001年,1邋E.邋Millerd[24]結(jié)合全息衍射器件、位相掩模板和檢偏器,搭建了動(dòng)態(tài)干逡逑涉測(cè)量系統(tǒng),如圖1.2(a)所不。參考光與測(cè)試光為一對(duì)振動(dòng)方向正交的線偏振光,經(jīng)過(guò)逡逑全息光學(xué)元件發(fā)生衍射分成四束光,四束光經(jīng)過(guò)位相掩模板后,每束光中的參考光與測(cè)逡逑試光分別產(chǎn)生位相依次相差71/2的相位差,在CCD相機(jī)前放置一個(gè)透振方向?yàn)椋矗?#176;的檢逡逑偏器,能夠在CCD上同時(shí)采集得到四幅位相差為jt/2的移相干涉圖。在2004年,J.邋E.逡逑MillerdP5]又對(duì)位相掩模板進(jìn)行了改進(jìn),用微偏振移相陣列代替了原來(lái)的全息分光位相掩逡逑模技術(shù),如圖1.2(b)所7F。微偏振陣列由許多微偏振兀組成,微偏振兀的大小與位置與逡逑CCD相機(jī)上每個(gè)像素大小與位置相匹配,每四個(gè)相鄰的微偏振元構(gòu)成一組移相單元,逡逑每組移相單元中微偏振元的透振方向分別為0°、45°、90°、135°,對(duì)應(yīng)的移相量分別為逡逑0、;i/2、71、3?1/2。在CCD上瞬時(shí)采集一幅干涉圖
1)多個(gè)CCD實(shí)現(xiàn)斐索型同步移相方案逡逑2004年,美國(guó)ESDI公司的Szwaykowski[27,28^人提出了一種斐索型同步移相專(zhuān)利逡逑技術(shù),該方案的光路如圖1.3所示。光源經(jīng)過(guò)渥拉斯頓棱鏡后產(chǎn)生一對(duì)存在一定夾角的逡逑正交線偏振光,通過(guò)調(diào)整參考鏡和測(cè)試鏡的俯仰傾斜,使參考光和測(cè)試光都通過(guò)空間濾逡逑波器,然后經(jīng)過(guò)x-cube棱鏡分光及偏振器件延遲,形成三幅移相干涉圖并由三個(gè)CCD逡逑同步懫集。該方案于2009年應(yīng)用于ESDI公司口徑為102mm的IntelliumTMH2000斐索逡逑型同步移相干涉儀[29]中,其優(yōu)勢(shì)是能夠避免雜散光進(jìn)入CCD產(chǎn)生寄生條紋,具有干涉逡逑圖分辨率高的優(yōu)點(diǎn),但由于參考光和測(cè)試光不共光路,從而引入較大的軸外像差和回程逡逑4逡逑
2012年,D.邋G邋Abdelsalam[31^人采用面形精度優(yōu)于V10的1/4波片,在產(chǎn)生參考逡逑光的同時(shí),實(shí)現(xiàn)了對(duì)測(cè)試光偏振態(tài)的調(diào)制,結(jié)合空間分光移相結(jié)構(gòu),搭建了同步移相斐逡逑索干涉測(cè)量系統(tǒng),如圖1.4所示。這種方案對(duì)1/4波片的面形要求很高,1/4波片隨著口逡逑徑的增大其制造難度也會(huì)增大,面形很難保證。因此,這種方案難以制成大口徑干涉儀。逡逑而且該系統(tǒng)懫用相干性良好的激光光源,在測(cè)量光學(xué)元件時(shí),同樣容易受到光學(xué)元件多逡逑次反射引入的寄生干涉條紋的干擾,導(dǎo)致測(cè)量失敗。逡逑
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