EDXRF光譜儀關鍵技術(shù)研究及譜線分析軟件設計
發(fā)布時間:2020-08-11 19:37
【摘要】:隨著國內(nèi)電子電氣產(chǎn)品產(chǎn)量和出口的增加,隨之而來的該類產(chǎn)品中有害物質(zhì)的檢測問題變得突出,不僅如此,日用化工、環(huán)境保護、食品安全等行業(yè)的物質(zhì)檢測需求也在增加。能量色散X射線熒光光譜儀是一款較理想的檢測儀器,受到了各行各業(yè)的青睞。在XRF光譜分析技術(shù)相對成熟的今天,光譜儀性能的提高主要依靠譜線分析算法的改進與創(chuàng)新。本文首先進行了譜線預處理算法的研究,包括濾波和背景扣除兩步。為了解決噪聲對譜線的影響,以小波多分辨率分析為基礎,結(jié)合軟、硬閾值門限規(guī)則的特點,設計了加權(quán)因子,研究了基于軟、硬閾值加權(quán)的最優(yōu)小波樹濾波方法。對于背景的影響,研究了小波分析背景扣除算法,為了解決傳統(tǒng)小波法背景扣除迭代次數(shù)多耗時較高的問題,設計了雙閾值門限規(guī)則,根據(jù)小波域中系數(shù)分布特點,設計了四分系數(shù)法確定閾值分界點的大小。對于樣品的定性分析,針對孤立與重疊譜段,分別研究了閾值參數(shù)尋峰算法和重疊峰校正算法。對于前者,聯(lián)合使用導數(shù)法與高斯擬合尋峰法,通過調(diào)節(jié)閾值參數(shù)進行初步尋峰。對于后者,依據(jù)高斯函數(shù)的特點,研究了基于四階導數(shù)的重疊峰校正算法,并且給出了重疊譜段各峰峰寬之比的計算方法。對于樣品的定量分析,最重要的是熒光強度的提取,研究了高斯峰擬合法與梯形面積法,后者是在前者的基礎上對模型進行的合理簡化,并且給出二者在重疊譜段各峰熒光強度的計算。采用C#與MATLAB混合編程方式并結(jié)合多線程技術(shù),在.NET Framework平臺上開發(fā)了上位機分析軟件,通過軟、硬件聯(lián)調(diào)聯(lián)試,以大米粉中鎘元素的測定為例驗證譜線分析算法的有效性,結(jié)果表明:定性相對誤差在1%以內(nèi),鎘元素的定量相對誤差在10%以內(nèi)。此外,還量化了光譜儀對鎘元素的檢出限、定量限和重復性等性能指標,表明整個光譜儀系統(tǒng)實現(xiàn)了鎘元素的精確測定,整機具有操作簡單、準確性高、實時性高等特點。
【學位授予單位】:南京航空航天大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2018
【分類號】:TH744.1
【圖文】:
狀至今,XRF光譜儀的研發(fā)和應用快速發(fā)展,表1.2為XRXRF光譜儀以及核心技術(shù)都集中在國外,例如荷蘭帕司與賽默飛世爾公司等,它們都有著悠久的研發(fā)歷史(2017年1月1日起,馬爾文和帕納科合并,合稱馬爾射線管工廠的大型X射線分析設備供應商,具有40多年方面采用ZETA技術(shù),解決了傳統(tǒng)的X射線管由于陰極的問題,從而確保了在X射線管壽命期內(nèi)始終保持初程度減少死機和維修成本。帕納科公司推出一種高功管,如圖1.1所示為最新型號的SST-mAX50射線管,除久的光管壽命、卓越的輕元素激發(fā)性能、高發(fā)射電流在鈹窗上使用CHI-BLUE涂層技術(shù),降低了薄窗易碎
南京航空航天大學碩士學位論文5如圖1.2所示為EDX-7000光譜儀,可實現(xiàn)樣品無損且無需前處理的輕松檢測,具有前所未有的高靈敏度、高速分析和高分辨率能力。該款儀器具有以下特征:(1)采用高性能的SDD檢測器,確保硬件最佳化。(2)高靈敏度——提高檢測下限1.5~5倍。(3)高速——分析速度最大可提高10倍。(4)高分辨率——與以往配置的Si(Li)半導體探測器相比,能量分辨率更高,使得能量相近的特征峰重疊程度減小,提高數(shù)據(jù)的可靠性。(5)進行15P以下的輕元素分析時,需要真空檢測單元或者氦氣置換檢測單元。(6)4種孔徑的準直器可實現(xiàn)自動切換。(7)6種一級濾光片,與準直器獨立驅(qū)動,可自由組合。圖 1.2 日本島津 EDX-7000 光譜儀江蘇天瑞儀器公司前身是1992年9月成立的西清華研究所,是中國在XRF光譜儀領域較早的生產(chǎn)廠家
圖 1.3 EDX-4500H 光1.2.2 光譜分析軟件發(fā)展現(xiàn)狀隨著電子學技術(shù)、計算機科學技術(shù)以及半測器的出現(xiàn)和更替,EDXRF光譜儀的性能水平儀的發(fā)展趨勢,聯(lián)用、在線與原位分析是目前了更高的標準[12-14]。新技術(shù)的開發(fā)以及應用需級(功能和算法兩方面)來得快。如果說儀器動力,那么上位機分析軟件的同步發(fā)展則是對例如,帕納科公司開發(fā)的Epsilon臺式軟件儀配套使用的XRF分析軟件平臺,軟件內(nèi)置的需的所有功能,為整個元素周期表上元素的快(1)簡單明了、用戶友好的常規(guī)分析界面交互式操作可以實現(xiàn)簡單測試分析。(2)可以通過自動程序選擇功能確定最佳
【學位授予單位】:南京航空航天大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2018
【分類號】:TH744.1
【圖文】:
狀至今,XRF光譜儀的研發(fā)和應用快速發(fā)展,表1.2為XRXRF光譜儀以及核心技術(shù)都集中在國外,例如荷蘭帕司與賽默飛世爾公司等,它們都有著悠久的研發(fā)歷史(2017年1月1日起,馬爾文和帕納科合并,合稱馬爾射線管工廠的大型X射線分析設備供應商,具有40多年方面采用ZETA技術(shù),解決了傳統(tǒng)的X射線管由于陰極的問題,從而確保了在X射線管壽命期內(nèi)始終保持初程度減少死機和維修成本。帕納科公司推出一種高功管,如圖1.1所示為最新型號的SST-mAX50射線管,除久的光管壽命、卓越的輕元素激發(fā)性能、高發(fā)射電流在鈹窗上使用CHI-BLUE涂層技術(shù),降低了薄窗易碎
南京航空航天大學碩士學位論文5如圖1.2所示為EDX-7000光譜儀,可實現(xiàn)樣品無損且無需前處理的輕松檢測,具有前所未有的高靈敏度、高速分析和高分辨率能力。該款儀器具有以下特征:(1)采用高性能的SDD檢測器,確保硬件最佳化。(2)高靈敏度——提高檢測下限1.5~5倍。(3)高速——分析速度最大可提高10倍。(4)高分辨率——與以往配置的Si(Li)半導體探測器相比,能量分辨率更高,使得能量相近的特征峰重疊程度減小,提高數(shù)據(jù)的可靠性。(5)進行15P以下的輕元素分析時,需要真空檢測單元或者氦氣置換檢測單元。(6)4種孔徑的準直器可實現(xiàn)自動切換。(7)6種一級濾光片,與準直器獨立驅(qū)動,可自由組合。圖 1.2 日本島津 EDX-7000 光譜儀江蘇天瑞儀器公司前身是1992年9月成立的西清華研究所,是中國在XRF光譜儀領域較早的生產(chǎn)廠家
圖 1.3 EDX-4500H 光1.2.2 光譜分析軟件發(fā)展現(xiàn)狀隨著電子學技術(shù)、計算機科學技術(shù)以及半測器的出現(xiàn)和更替,EDXRF光譜儀的性能水平儀的發(fā)展趨勢,聯(lián)用、在線與原位分析是目前了更高的標準[12-14]。新技術(shù)的開發(fā)以及應用需級(功能和算法兩方面)來得快。如果說儀器動力,那么上位機分析軟件的同步發(fā)展則是對例如,帕納科公司開發(fā)的Epsilon臺式軟件儀配套使用的XRF分析軟件平臺,軟件內(nèi)置的需的所有功能,為整個元素周期表上元素的快(1)簡單明了、用戶友好的常規(guī)分析界面交互式操作可以實現(xiàn)簡單測試分析。(2)可以通過自動程序選擇功能確定最佳
【參考文獻】
相關期刊論文 前10條
1 張輝;余正東;吳敏;李強;g榔
本文編號:2789481
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