原子發(fā)射光譜儀寬譜段高分辨率快速檢測(cè)技術(shù)研究
【圖文】:
使光譜儀探測(cè)技術(shù)朝著快速化、全譜化的方向發(fā)展。如美國(guó)瓦里 VARIAN VISTA 系列的全譜直讀原子發(fā)射光譜儀采用 CCD 二維檢測(cè)器圍達(dá)到 167-785 nm。球頂級(jí)光學(xué)產(chǎn)品供應(yīng)商法國(guó) HORIBA JY 公司所生產(chǎn)的等離子體發(fā)射光光譜分辨率還是光譜范圍性能上一直在國(guó)際上處于領(lǐng)先地位,如型號(hào)為t LT 的原子發(fā)射光譜儀譜段覆蓋范圍可以從 160 nm 到 800 nm,在紫外區(qū)分辨率小于 5 pm;可見(jiàn)光范圍內(nèi)的光譜分辨率小于 10 pm。且 JY 公司采用測(cè)器件,如圖 1.1 所示,通過(guò)掃描機(jī)構(gòu)帶動(dòng)光柵轉(zhuǎn)動(dòng)逐步實(shí)現(xiàn)波長(zhǎng)掃描度高,最高可達(dá) 0.1 ppm,但是其一次只能對(duì)單一光譜通道進(jìn)行測(cè)量,,復(fù)雜樣品發(fā)射光譜探測(cè)時(shí),探測(cè)譜段為紫外至近紅外,且光譜分辨率要求測(cè)速度較慢,探測(cè) 1 nm 的波段范圍需要進(jìn)行數(shù)千步掃描。而國(guó)內(nèi)中科等研究機(jī)構(gòu)則主要研究將中階梯光柵與面陣探測(cè)器配合,通過(guò)對(duì)光譜信散,同時(shí)在探測(cè)器像面上獲得不同級(jí)次的不同譜段的光譜信號(hào),只用一得從紫外至近紅外寬譜段范圍內(nèi)的光譜信號(hào),其結(jié)構(gòu)原理如圖 1.2 所示
最高可達(dá) 0.1 ppm,但是其一次只能對(duì)單一光譜通道進(jìn)行測(cè)量,復(fù)雜樣品發(fā)射光譜探測(cè)時(shí),探測(cè)譜段為紫外至近紅外,且光譜分辨率要求測(cè)速度較慢,探測(cè) 1 nm 的波段范圍需要進(jìn)行數(shù)千步掃描。而國(guó)內(nèi)中科等研究機(jī)構(gòu)則主要研究將中階梯光柵與面陣探測(cè)器配合,通過(guò)對(duì)光譜信散,同時(shí)在探測(cè)器像面上獲得不同級(jí)次的不同譜段的光譜信號(hào),只用一得從紫外至近紅外寬譜段范圍內(nèi)的光譜信號(hào),其結(jié)構(gòu)原理如圖 1.2 所示圖 1.1 HORIBAJY 公司 PMT 原子發(fā)射發(fā)射光譜儀結(jié)構(gòu)圖
【學(xué)位授予單位】:長(zhǎng)春理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2019
【分類(lèi)號(hào)】:TH744.1
【參考文獻(xiàn)】
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5 施Z赯
本文編號(hào):2684814
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