基于工業(yè)CT斷層掃描快速反求技術(shù)的研究
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《重慶大學(xué)》 2005年
基于工業(yè)CT斷層掃描快速反求技術(shù)的研究
龐曉平
【摘要】:隨著先進(jìn)制造技術(shù)的發(fā)展,反求工程技術(shù)越來越顯示出其重要性,而且對反求工程技術(shù)也提出越來越高的技術(shù)要求。三維物體測量是反求工程的基礎(chǔ),現(xiàn)有的測量技術(shù)可以滿足對物體一般的表面輪廓測量,但在不能破壞物體的前提下測量(也就是無損測量)封閉物體的內(nèi)部輪廓時(shí)就顯得無能為力了。工業(yè)CT 斷層掃描利用物體對射線不同的衰減程度而重建出斷層圖像,可以通過斷層圖像同時(shí)無損地測量物體的內(nèi)外輪廓,得到零件完整的斷層模型;诠I(yè)CT 斷層掃描的快速反求工程系統(tǒng)有助于縮短產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)周期,降低生產(chǎn)設(shè)計(jì)成本,加速我國對世界工業(yè)發(fā)達(dá)國家的跟蹤和趕超。本文系統(tǒng)研究了基于工業(yè)CT 斷層掃描的快速反求工程所涉及到的關(guān)鍵技術(shù)。 基于工業(yè)CT 斷層掃描零件的過程實(shí)際上是快速原型機(jī)制造過程的一個(gè)逆過程,成型機(jī)驅(qū)動(dòng)數(shù)據(jù)就是一層一層的輪廓數(shù)據(jù),而測量的數(shù)據(jù)也是一層一層的輪廓數(shù)據(jù),可以將測量所得的層輪廓數(shù)據(jù)經(jīng)過處理直接滿足成型機(jī)的需要。因而本文研究了由工業(yè)CT 掃描所得的斷層數(shù)據(jù)直接驅(qū)動(dòng)快速原型機(jī)的反求過程,這樣的處理方法首先是無損的且具有速度快、精度高、數(shù)據(jù)量小的優(yōu)點(diǎn),而且避免了復(fù)雜的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換過程和STL 格式所帶來的缺點(diǎn),也減少了中間轉(zhuǎn)換的誤差。 基于工業(yè)CT 的斷層掃描圖像數(shù)據(jù),采用了首先對灰度圖像進(jìn)行去噪、圖像增強(qiáng)、銳化等,再進(jìn)行圖像二值化后對圖像作進(jìn)一步的處理分析,這樣可以簡化圖像的后續(xù)處理,以提高圖像的質(zhì)量。圖像二值化采用了迭代法求取圖像最佳閾值進(jìn)行灰度分割,得到二值圖像。 通過對現(xiàn)有輪廓提取方法的比較,作者針對所研究的工業(yè)CT 斷層圖像,采用了比較簡單的基于二值化圖像的形態(tài)學(xué)方法提取圖像輪廓,也就是利用形態(tài)學(xué)中的腐蝕去減原圖,其結(jié)果就是圖像的邊緣圖像。 針對上面的輪廓提取算法,作者提出了一種改進(jìn)的輪廓跟蹤算法,即根據(jù)原有的八方向跟蹤準(zhǔn)則,考慮到反求工程系統(tǒng)只需要對輪廓特征點(diǎn)的記錄,對冗余的數(shù)據(jù)點(diǎn)通過跟蹤進(jìn)行刪除,這樣在得到輪廓的同時(shí)大大精簡了跟蹤結(jié)果的數(shù)據(jù)量,起到了優(yōu)化數(shù)據(jù)的作用。通過以上方法的處理效果是好的。
【關(guān)鍵詞】:
【學(xué)位授予單位】:重慶大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2005
【分類號】:TH878.1
【目錄】:
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