【摘要】：采用X射線熒光光譜法快速無損掃描測定電子電氣產(chǎn)品中19種元素,考察了特征X射線以及計(jì)數(shù)時(shí)間的選擇,并通過自制標(biāo)準(zhǔn)塊繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線。同時(shí)利用MAPPING功能進(jìn)行微區(qū)原位掃描,掌握19種元素的分布情況及分布特征。并利用換算因子計(jì)算REACH高關(guān)注物質(zhì)的含量,對19種元素進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)性評價(jià)。
[Abstract]:A rapid nondestructive scanning X-ray fluorescence spectrometry was used to determine 19 elements in electronic and electrical products. The selection of characteristic X-ray and counting time was investigated and the standard curve was drawn by self-made standard block. At the same time, the distribution and distribution characteristics of 19 elements were obtained by in situ scanning with MAPPING function. The conversion factor was used to calculate the content of high concentration substances in REACH, and the risk of 19 elements was evaluated.
【作者單位】： 上海出入境檢驗(yàn)檢疫局;
【基金】：上海出入境檢驗(yàn)檢疫局項(xiàng)目(HK023-2015)資助
【分類號(hào)】：TN06;TH744.1

【參考文獻(xiàn)】

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【二級(jí)參考文獻(xiàn)】

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【相似文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：2449602