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測量型顯微CT系統(tǒng)的定值方法

發(fā)布時間:2018-06-06 02:00

  本文選題:顯微CT標準器 + 光耦探測器 ; 參考:《天津大學》2016年碩士論文


【摘要】:測量型CT系統(tǒng)作為一種新型的坐標測量技術在近年來逐步受到人們的認可,國內外的諸多科研機構對其也在持續(xù)進行相關的研究,并取得了一定成果。由于測量型CT系統(tǒng)多具有X射線源、機械運動系統(tǒng)、平板探測器、掃描數(shù)據(jù)重建模塊等多種組成部分,這就導致了其測量誤差來源極為復雜。顯微CT在平板探測器的基礎上,新增了光耦探測器單元,提高了CT系統(tǒng)的空間分辨力,同時擴大了CT系統(tǒng)的測量范圍,使其能夠對尺寸從微米量級到百微米量級的樣品進行幾何量測量。但由于其包含了閃爍體、顯微物鏡、管鏡及CCD等組件,結構相較于平板探測器更為復雜,使得測量誤差來源范圍進一步擴大。這使得其測量的準確性的提升以及測量不確定度的量值溯源變得尤為困難。本文針對顯微CT的計量特性制訂了一套校準方案,設計了可用于校準顯微CT探測形狀誤差及探測尺寸誤差的微球標準器以及可用于校準顯微CT探測形狀誤差及長度測量誤差的微型球板標準器和微型孔板標準器,使用微納坐標測量機、圓度儀與計量型掃描電子顯微鏡對其進行定值,然后用其對顯微CT的幾何量測量誤差進行校準,并對校準結果進行了初步的不確定度來源分析及合成標準不確定度的計算。最后,對使用新的材料、新的方法在微觀領域研制更新型的微型標準器的工作進行了合理展望。
[Abstract]:As a new type of coordinate measurement technology, measuring CT system has been gradually recognized by people in recent years, and many scientific research institutions at home and abroad are continuing to study it, and have achieved certain results. The measuring CT system has many components, such as X-ray source, mechanical motion system, flat panel detector, scan data reconstruction module and so on, which makes the source of measurement error extremely complex. On the basis of flat panel detector, micro-CT has added photocoupling detector unit, which improves the spatial resolution of CT system and expands the measurement range of CT system. It enables geometric measurements of samples ranging in size from micron to 100 microns. However, because of its scintillator, micro objective lens, tube mirror and CCD components, the structure is more complex than the flat panel detector, which makes the source range of measurement error further expanded. This makes it difficult to improve the accuracy of measurement and trace the source of uncertainty. In this paper, a calibration scheme is developed for the metrological characteristics of microCT. The microsphere standardiser, which can be used to calibrate the shape error and dimension error of microCT detection, and the microsphere plate standardiser and micro-hole plate standardiser, which can be used to calibrate the shape error and length measurement error of microCT detection, are designed. The micro / nano coordinate measuring machine, roundness instrument and metrological scanning electron microscope are used to calibrate the geometric error of micro CT. The source analysis of the calibration results and the calculation of the synthetic standard uncertainty are carried out. Finally, the work of developing a new type of micro standard device in the micro field with new materials and new methods is prospected.
【學位授予單位】:天津大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2016
【分類號】:TH721

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本文編號:1984490

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