平面子孔徑拼接干涉測量研究.pdf
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聲 明
本學(xué)位論文是我在導(dǎo)師的指導(dǎo)下取得的研究成果,盡我所知,在
本學(xué)位論文中,除了加以標(biāo)注和致謝的部分外,不包含其他人已經(jīng)發(fā)
表或公布過的研究成果,也不包含我為獲得任何教育機(jī)構(gòu)的學(xué)位或?qū)W
歷而使用過的材料。與我一同工作的同事對本學(xué)位論文做出的貢獻(xiàn)均
己在論文中作了明確的說明。
研究生簽名:墮:窆璽 糾;年弓月諺日
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彬年弓月/彥日
研究生簽名::墮堊疊平面子孔徑拼接的干涉測量研究
碩士論文摘 要
子孔徑拼接測量技術(shù)拓展了干涉儀的橫向和縱向測量范圍,能夠以低成本、
高分辨率檢測大口徑光學(xué)元件。
本文首先研究了子孔徑拼接技術(shù),包括子孔徑拼接原理、分類和子孔徑定位。
其次在均化誤差思想的基礎(chǔ)上,研究自由拼接技術(shù),使任意相連的子孔徑能夠?qū)?現(xiàn)自由拼接。同時(shí)編寫程序,并通過模擬來驗(yàn)證自由拼接技術(shù)的可行性,經(jīng)驗(yàn)證,
在只考慮拼接算法誤差的情況下,該算法精度優(yōu)于’,并人為地加入不同的
誤差,查看各種情況下的拼接精度。第三,搭建實(shí)驗(yàn)平臺(tái)、完善子孔徑測量實(shí)驗(yàn)
的硬件,實(shí)現(xiàn)各子孔徑波前數(shù)據(jù)的獲取,并實(shí)現(xiàn)子孔徑的自由拼接實(shí)驗(yàn)。第四,
分析實(shí)驗(yàn)中自由拼接技術(shù)的拼接精度和誤差,判斷重復(fù)性測量實(shí)驗(yàn)中是否含有粗
大誤差,通過三面互檢技術(shù)消除標(biāo)準(zhǔn)鏡的系統(tǒng)誤差。
關(guān)鍵詞:子孔徑,自由拼接,干涉測量,誤差分析 碩士論文?
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Ⅱ平面子孔徑拼接的干涉測量研究
碩士論
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本文編號:192529
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