本文選題：熒光光譜儀 + 光路系統(tǒng)��； 參考：《巖礦測試》2014年05期

【摘要】：正X射線熒光光譜分析具有分析元素范圍廣、分析含量范圍寬、分析精度高、重現(xiàn)性好等優(yōu)點(diǎn),屬于非破壞性分析,可進(jìn)行薄膜的組分和厚度的分析,易于實(shí)現(xiàn)自動化及在線分析,被廣泛應(yīng)用于電子和磁性材料、化學(xué)工業(yè)、陶瓷和水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油和煤、環(huán)境等領(lǐng)域。X射線熒光光譜儀基本由五大部分組成,即激發(fā)系統(tǒng)、分光系統(tǒng)、探測系統(tǒng)、儀器控制系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等。分光系統(tǒng)是對來自樣品元素的特征譜線進(jìn)行分辨和限
[Abstract]:Positive X-ray fluorescence spectroscopy has the advantages of wide range of analytical elements, wide range of analytical contents, high analytical accuracy and good reproducibility. It belongs to non-destructive analysis and can be used to analyze the composition and thickness of thin films. Easy to automate and analyze on line, widely used in electronics and magnetic materials, chemical industry, ceramic and cement industry, iron and steel industry, non-ferroalloy, geology and mineral, petroleum and coal, The XRF spectrometer is composed of five parts: excitation system, spectroscopic system, detection system, instrument control system and data processing system. The spectroscopic system is used to distinguish and limit the characteristic lines from the elements of the sample.
【作者單位】： 國家地質(zhì)實(shí)驗(yàn)測試中心;浙江省地質(zhì)礦產(chǎn)研究所;鋼研納克檢測技術(shù)有限公司;
【基金】：國家重大科學(xué)儀器設(shè)備開發(fā)專項(xiàng)(2012YQ050076)
【分類號】：TH744.16

【共引文獻(xiàn)】

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2 新文;我國研發(fā)復(fù)合型X射線熒光光譜儀[N];中國國土資源報;2012年

3 記者　劉傳書;我自主研發(fā)成功X熒光光譜儀[N];科技日報;2006年

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1 王z，

本文編號：1859244