發(fā)布時(shí)間：2018-03-03 15:55

  本文選題：診斷X射線　切入點(diǎn)：曝光時(shí)間　出處：《中國(guó)測(cè)試》2015年01期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：曝光時(shí)間是診斷X射線的重要參數(shù)之一,根據(jù)半導(dǎo)體探測(cè)器體積小、靈敏度高及響應(yīng)快等特點(diǎn),研制一種用于非介入式測(cè)量曝光時(shí)間等參數(shù)的測(cè)量?jī)x,建立診斷X射線曝光時(shí)間測(cè)量模型,并給出曝光時(shí)間非介入式測(cè)量的電路構(gòu)成和軟件流程。實(shí)驗(yàn)表明:研制的診斷X射線多參數(shù)測(cè)量?jī)x適用于曝光時(shí)間的非介入式測(cè)量和校準(zhǔn)。
[Abstract]:The exposure time is one of the important parameters of X ray diagnosis, according to the semiconductor detector has the advantages of small size, high sensitivity and fast response, the development of a measuring instrument for non-invasive measurement of exposure time and other parameters, the establishment of diagnostic X ray exposure time measurement model, and gives the exposure time of non circuit and software process of intrusive measurement. Experimental results show that the X ray diagnosis multi parameter measuring instrument developed for non-invasive measurement and calibration of the exposure time.

【作者單位】： 中測(cè)測(cè)試科技有限公司;中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院;
【基金】：國(guó)家重大科學(xué)儀器設(shè)備開(kāi)發(fā)專項(xiàng)(2013YQ090811) 四川省科技計(jì)劃項(xiàng)目(2013GZ0010)
【分類號(hào)】：TH774

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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【二級(jí)參考文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：1561697