超小口徑元件光譜參數(shù)檢測(cè)設(shè)備改進(jìn)
發(fā)布時(shí)間:2018-01-16 07:05
本文關(guān)鍵詞:超小口徑元件光譜參數(shù)檢測(cè)設(shè)備改進(jìn) 出處:《科學(xué)技術(shù)與工程》2015年03期 論文類(lèi)型:期刊論文
更多相關(guān)文章: 透射率 反射率 分光光度計(jì) 光學(xué)元件 小孔 衰減比
【摘要】:為實(shí)現(xiàn)超小光學(xué)元件(直徑小于φ15 mm)光譜參數(shù)的檢測(cè),在現(xiàn)有商用分光光度計(jì)的基礎(chǔ)上,對(duì)設(shè)備進(jìn)行了改進(jìn)完善,通過(guò)在測(cè)試光路和參考光路增加衰減比相匹配的縮束小孔,成功實(shí)現(xiàn)了檢測(cè)光束的縮束。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:改進(jìn)后的設(shè)備基線(xiàn)平直度不大于!0.001 A,標(biāo)準(zhǔn)元件檢測(cè)結(jié)果與標(biāo)定值偏差不超過(guò)0.05%。
[Abstract]:In order to detect the spectral parameters of ultra-small optical elements (diameter < 蠁 15mm), the equipment is improved and perfected on the basis of existing commercial spectrophotometers. The experimental results show that the experimental results show that the baseline flatness of the improved device is not greater than that of the improved device by increasing the beam shrinkage holes which match the attenuation ratio in the test light path and the reference light path. 0. 001 A, the deviation between the standard component test results and the calibration value is not more than 0. 05.
【作者單位】: 中國(guó)工程物理研究院
【分類(lèi)號(hào)】:TH744.1
【正文快照】: 光學(xué)元件光譜參數(shù)主要包括透射率、反射率、透反率不均勻性等,直接影響到通過(guò)光學(xué)系統(tǒng)的輸出光束強(qiáng)度,是評(píng)價(jià)光學(xué)元件質(zhì)量的關(guān)鍵指標(biāo)[1,2]。尤其在高功率激光系統(tǒng)中,對(duì)該項(xiàng)指標(biāo)提出了很高的要求,通常提到了99.5%"99.8%,這就要求對(duì)系統(tǒng)中光學(xué)元件的光譜參數(shù)進(jìn)行高精度的檢測(cè)。
【相似文獻(xiàn)】
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1 肖泓渤 ,曹偉;色譜分析的誤差產(chǎn)生及校正[J];企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化;2005年08期
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,本文編號(hào):1432024
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