本文關(guān)鍵詞：小孔徑采樣在大口徑系統(tǒng)主鏡裝調(diào)中的應(yīng)用

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【摘要】：為了滿足大口徑光學(xué)—紅外系統(tǒng)主鏡的檢測(cè)裝調(diào),引入了小孔徑采樣方法對(duì)于系統(tǒng)主鏡的低階誤差進(jìn)行分析,進(jìn)而對(duì)系統(tǒng)的裝調(diào)進(jìn)行指導(dǎo)。隨著光學(xué)-紅外系統(tǒng)的口徑加大,由于檢測(cè)成本等原因,之前在裝調(diào)時(shí)使用的與制造過程中相同的檢測(cè)方法已經(jīng)不再適用。本文首先對(duì)于小孔徑掃描的基本原理做出了介紹,之后提出了實(shí)現(xiàn)本文方法的硬件結(jié)構(gòu),最后通過數(shù)值仿真來驗(yàn)證本文方法的正確性與可行性。對(duì)于大口徑光學(xué)-紅外系統(tǒng)主鏡的裝調(diào)檢測(cè)有著較好的指導(dǎo)作用。
【作者單位】： 中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所;
【基金】：中科院三期重大科研專項(xiàng)資助
【分類號(hào)】：TH743
【正文快照】： 1引言隨著光學(xué)-紅外探測(cè)系統(tǒng)口徑的不斷增加,相應(yīng)器件的檢驗(yàn)難度也隨之加大。尤其對(duì)于大口徑反射鏡之類的光學(xué)元件,其表面面形的檢測(cè)與評(píng)價(jià)直接影響著其制造精度與成像質(zhì)量。在實(shí)際的工程應(yīng)用之中,對(duì)于大口徑的反射元件,一般都會(huì)留有若干調(diào)整環(huán)節(jié)。但是這些環(huán)節(jié)的空間帶寬有限

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