像方掃描機(jī)制的紅外成像制導(dǎo)光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)
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【摘要】:提出了一種新型的像方掃描機(jī)制的紅外成像制導(dǎo)光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)構(gòu)型。該掃描系統(tǒng)體積小、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,具有大視場(chǎng)搜索和小視場(chǎng)分辨的特點(diǎn)。設(shè)計(jì)了一個(gè)紅外光學(xué)系統(tǒng)實(shí)例,工作波段為3.7~4.8μm,焦距為80 mm,掃描視場(chǎng)為±15°,瞬時(shí)視場(chǎng)為5°。系統(tǒng)全視場(chǎng)MTF在17 lp/mm處均大于0.5,點(diǎn)斑均方根直徑小于30μm,滿足光學(xué)系統(tǒng)的成像要求。
【作者單位】: 光電控制技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司洛陽(yáng)電光設(shè)備研究所;
【關(guān)鍵詞】: 像方掃描 紅外成像制導(dǎo) 光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì) 像質(zhì)評(píng)價(jià)
【分類號(hào)】:TH74
【正文快照】: 0引言近年來,隨著紅外成像技術(shù)的不斷成熟和工程化、實(shí)用化發(fā)展,紅外成像制導(dǎo)已成為精確制導(dǎo)技術(shù)研究領(lǐng)域的新熱點(diǎn)[1]。紅外成像制導(dǎo)利用紅外成像探測(cè)原理進(jìn)行目標(biāo)探測(cè),實(shí)現(xiàn)對(duì)目標(biāo)檢測(cè)、識(shí)別與跟蹤[2-3],具有抗干擾能力強(qiáng)、隱蔽性好、制導(dǎo)精度高和準(zhǔn)全天候工作的優(yōu)點(diǎn)[4]。光學(xué)
【參考文獻(xiàn)】
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【共引文獻(xiàn)】
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4 范茂彥;BST厚膜非制冷紅外焦平面陣列結(jié)構(gòu)及特性研究[D];華中科技大學(xué);2009年
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中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條
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【二級(jí)參考文獻(xiàn)】
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中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前3條
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【相似文獻(xiàn)】
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,本文編號(hào):1118445
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