本文關(guān)鍵詞：基于SDD探測(cè)器X熒光儀的應(yīng)用探討

  更多相關(guān)文章： X射線熒光分析 SDD探測(cè)器 不銹鋼 基體效應(yīng) 快速分析

【摘要】：本文分析不銹鋼樣品并進(jìn)行主成分Cr、Ni、Fe含量研究,通過(guò)Pu-238同位素源和微功耗X光管激發(fā)對(duì)比,以及SDD和Si-PIN探測(cè)器探測(cè)對(duì)比,評(píng)價(jià)SDD探測(cè)器在不銹鋼主成分X射線熒光分析中的應(yīng)用效果。實(shí)驗(yàn)中Pu-238同位素源采用雙源對(duì)稱布置,總活度為1.48×109Bq；X光管為Rh靶端窗結(jié)構(gòu),功率為18kV/10μA; SDD和Si-PIN探測(cè)器的FWHM分別為136eV和185eV(對(duì)MnKa的5.9keVX射線)。采用權(quán)因子影響系數(shù)法校正基體效應(yīng)。研究結(jié)果表明：(1)SDD探測(cè)器的分析精度優(yōu)于Si-PIN,其最大分析誤差、平均分析誤差都小于Si-PIN。說(shuō)明FWHM更窄的探測(cè)器克服譜峰干擾和解決基體效應(yīng)的效果更好。(2)單色(多色)光源比連續(xù)X射線譜激發(fā)源在不銹鋼主成分分析精度方面有更大的優(yōu)勢(shì)。X光管的光子輸出率高,可以提高分析速度,但同時(shí)會(huì)產(chǎn)生連續(xù)譜本底,增加了特征峰的測(cè)量誤差,導(dǎo)致分析精度降低。(3)對(duì)SDD探測(cè)器和Pu-238源組成的實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),分析不銹鋼主成分Cr、Ni、Fe的最大絕對(duì)誤差分別是0.19%、0.30%、0.74%。分析精度可滿足常規(guī)分析的要求。因此,基于SDD探測(cè)器的X射線熒光分析儀在合金分析中具有推廣應(yīng)用前景。
【關(guān)鍵詞】：X射線熒光分析 SDD探測(cè)器 不銹鋼 基體效應(yīng) 快速分析
【學(xué)位授予單位】：東華理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號(hào)】：TH871
【目錄】：

• 摘要4-5
• Abstract5-8
• 1 緒論8-16
• 1.1 選題背景及研究依據(jù)8-10
• 1.2 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀10-13
• 1.2.1 現(xiàn)場(chǎng)X射線熒光分析的發(fā)展現(xiàn)狀10-12
• 1.2.2 不銹鋼的發(fā)展與分析標(biāo)準(zhǔn)12-13
• 1.3 研究?jī)?nèi)容及研究方法13-14
• 1.3.1 研究?jī)?nèi)容13-14
• 1.3.2 研究方法14
• 1.4 成果特色14-16
• 2 X射線熒光分析的理論基礎(chǔ)16-30
• 2.1 X射線熒光分析的基本原理16-20
• 2.1.1 定性分析的物理依據(jù)16-17
• 2.1.2 定量分析的基本公式17-20
• 2.2 探測(cè)器的選擇20-25
• 2.3 激發(fā)源的選擇25-30
• 3 實(shí)驗(yàn)儀器與裝備30-42
• 3.1 實(shí)驗(yàn)設(shè)備30-36
• 3.1.1 探測(cè)器的準(zhǔn)備30-31
• 3.1.2 X射線管的準(zhǔn)備31-32
• 3.1.3 數(shù)字化譜儀的準(zhǔn)備32-33
• 3.1.4 實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的搭建33-35
• 3.1.5 實(shí)驗(yàn)儀器的穩(wěn)定性檢查35-36
• 3.2 樣品的準(zhǔn)備36-37
• 3.3 基體效應(yīng)研究與多參數(shù)校準(zhǔn)模型37-42
• 3.3.1 基體效應(yīng)分析37-39
• 3.3.2 權(quán)因子校正模型39-42
• 4 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析42-52
• 4.1 基于SDD探測(cè)器分析系統(tǒng)的分析結(jié)果42-45
• 4.1.1 用Pu-238同位素激發(fā)的分析結(jié)果42-44
• 4.1.2 用X光管激發(fā)的分析結(jié)果44-45
• 4.2 基于SDD與Si-PIN分析儀的分析對(duì)比結(jié)果45-47
• 4.3 未知樣品的分析對(duì)比結(jié)果47-49
• 4.4 重復(fù)分析檢查結(jié)果49-52
• 結(jié)論52-54
• 致謝54-56
• 參考文獻(xiàn)56-60
• 攻讀學(xué)位期間取得學(xué)術(shù)成果60

【參考文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條

1 栗琳;胡勇;王躍明;;基于譜線漂移校正模型的實(shí)驗(yàn)室光譜定標(biāo)修正[J];光電工程;2012年02期

2 楊曉紅;;X射線能譜儀譜峰重疊問(wèn)題的探討[J];中央民族大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2008年04期

3 王化明;高新華;;X-射線熒光光譜法測(cè)定不銹鋼中多元素含量[J];冶金分析;2008年03期

4 周南;X射線熒光分析技術(shù)的研發(fā)動(dòng)態(tài)[J];理化檢驗(yàn)(化學(xué)分冊(cè));2005年07期

5 朱紀(jì)夏,劉洪濤;X射線熒光光譜儀漂移的校正方法[J];冶金分析;2004年05期

6 田玉仙,吳麗萍,王剛;蒙特卡羅方法在X熒光無(wú)損分析中的應(yīng)用[J];核技術(shù);2004年01期

7 賴萬(wàn)昌,葛良全,吳永鵬,林延暢,肖剛毅;新型高靈敏度XRF分析儀的研制與應(yīng)用[J];核技術(shù);2003年11期

8 賴萬(wàn)昌,葛良全,吳永鵬,肖剛毅,林延暢,賈艷;輕型XRF分析儀在鐵精礦品質(zhì)快速檢測(cè)中的應(yīng)用[J];金屬礦山;2003年07期

9 何文權(quán),熊櫻菲;表面彎曲的古陶瓷樣品X射線熒光無(wú)損定量分析[J];核技術(shù);2002年07期

10 雷平;X射線能譜重疊峰的識(shí)別[J];理化檢驗(yàn)(物理分冊(cè));2001年05期

中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前3條

1 袁新宇;γ譜弱峰優(yōu)化檢測(cè)方案研究[D];南華大學(xué);2011年

2 李丹;EDiX-Ⅲ型X光管在能量色散X熒光分析中的應(yīng)用研究[D];成都理工大學(xué);2008年

3 羅健明;能量色散X射線熒光分析的小波解譜算法研究[D];成都理工大學(xué);2007年

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本文編號(hào)：1096850