極小孔徑衍射波前測(cè)試分析
本文關(guān)鍵詞:極小孔徑衍射波前測(cè)試分析
更多相關(guān)文章: 光學(xué)檢測(cè) 點(diǎn)衍射干涉儀 相位復(fù)原 衍射波前
【摘要】:研制點(diǎn)衍射干涉儀時(shí),小孔的形貌和裝調(diào)誤差會(huì)對(duì)衍射波前質(zhì)量產(chǎn)生影響,故本文研究了采用相位復(fù)原對(duì)小孔衍射波前質(zhì)量進(jìn)行測(cè)評(píng)的方法。設(shè)計(jì)并搭建了衍射波前測(cè)試裝置,對(duì)光纖衍射波前進(jìn)行了測(cè)評(píng)實(shí)驗(yàn)。為了驗(yàn)證測(cè)試方法的有效性,分別對(duì)采集的衍射圖像與重構(gòu)的衍射圖像,以及測(cè)試獲得的振幅分布與理論計(jì)算獲得的振幅分布進(jìn)行了對(duì)比。結(jié)果顯示。采集圖像與重構(gòu)圖像之間的差異為0.32%,驗(yàn)證了采用相位復(fù)原技術(shù)進(jìn)行衍射波前測(cè)試方法的有效性。同時(shí),對(duì)干涉方法測(cè)量與相位復(fù)原結(jié)果進(jìn)行了對(duì)比,二者差異僅為0.001 4λRMS。
【作者單位】: 中國科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所應(yīng)用光學(xué)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;中國科學(xué)院大學(xué);
【關(guān)鍵詞】: 光學(xué)檢測(cè) 點(diǎn)衍射干涉儀 相位復(fù)原 衍射波前
【基金】:國家重大科技專項(xiàng)資助項(xiàng)目
【分類號(hào)】:TH744.3
【正文快照】: 1引言點(diǎn)衍射干涉儀是一種測(cè)量精度極高的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備。它采用極小孔徑衍射作為測(cè)試基準(zhǔn)波前[1],可為高精密光刻投影物鏡的研制提供技術(shù)支持[2-4]。極高質(zhì)量球面衍射基準(zhǔn)波前是點(diǎn)衍射干涉儀實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量的重要前提,因此對(duì)它進(jìn)行測(cè)評(píng)是點(diǎn)衍射干涉儀研制過程的重要環(huán)節(jié)之一。2
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,本文編號(hào):1059702
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