本文關(guān)鍵詞：非接觸式透鏡中心厚度檢測(cè)信號(hào)的數(shù)值融合與處理研究

  更多相關(guān)文章： 非接觸式測(cè)量 光學(xué)共焦 透鏡中心厚度 ZEMAX MATLAB

【摘要】：非接觸式的檢測(cè)法是一種以光電、超聲波和電磁等技術(shù)為基礎(chǔ),在測(cè)量裝置的感觸組件不和被測(cè)體表面相接觸的情況下就能獲取物體的外表以及一些內(nèi)在情況數(shù)據(jù)的一種方法。隨著現(xiàn)代社會(huì)的發(fā)展,非接觸式測(cè)量越來(lái)越成為現(xiàn)代主要的測(cè)量方法。尤其是在鏡片檢測(cè)的領(lǐng)域,接觸式測(cè)量方法存在幾個(gè)主要問(wèn)題包括在檢測(cè)上的速度比較緩慢,精度也不能達(dá)到要求,而且容易因?yàn)闇y(cè)頭和工件的頻繁接觸造成一定的損傷,所以為了提高精度和避免人工檢測(cè)對(duì)鏡片的劃傷,對(duì)非接觸式的測(cè)量?jī)x器的需求越來(lái)越高。論文主要分為以下幾個(gè)部分:1、闡述了非接觸式測(cè)量技術(shù)的研究背景和進(jìn)展,光學(xué)共焦法測(cè)量的原理,技術(shù)背景和發(fā)展情況。對(duì)裝置測(cè)量方法的選取和整個(gè)裝置的構(gòu)成做了介紹和說(shuō)明。2、采用ZEMAX軟件構(gòu)建了共焦光學(xué)系統(tǒng),通過(guò)構(gòu)建多重結(jié)構(gòu)和合適的操作數(shù)對(duì)整個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行仿真優(yōu)化。仿真結(jié)果表明,共焦光學(xué)系統(tǒng)的各個(gè)波長(zhǎng)在焦面上聚焦效果良好,并且軸向色差以及波長(zhǎng)兩者之間線性關(guān)系良好,滿足了所需要達(dá)到的要求。3、采用MATLAB的數(shù)據(jù)擬合功能對(duì)透鏡中心厚度和各個(gè)因素進(jìn)行關(guān)系擬合,研究了各個(gè)因素對(duì)透鏡中心厚度的影響,分析了不同情況下的擬合情況和精度。最后構(gòu)建了一個(gè)合理的數(shù)學(xué)模型,利用軟件進(jìn)行編程求解,最終得到了透鏡中心厚度的表達(dá)關(guān)系式。4、通過(guò)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和實(shí)際數(shù)據(jù)的比對(duì),對(duì)實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析,然后就誤差產(chǎn)生的原因進(jìn)行了深入細(xì)致的分析和解決方法的探討。
【關(guān)鍵詞】：非接觸式測(cè)量 光學(xué)共焦 透鏡中心厚度 ZEMAX MATLAB
【學(xué)位授予單位】：江蘇大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號(hào)】：TH74
【目錄】：

• 摘要4-5
• ABSTRACT5-9
• 第一章 緒論9-16
• 1.1 非接觸測(cè)量技術(shù)的研究背景和意義9-10
• 1.2 國(guó)內(nèi)外研究的發(fā)展現(xiàn)狀10-14
• 1.3 論文的研究?jī)?nèi)容和研究目的14-16
• 第二章檢測(cè)系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì)16-28
• 2.1 檢測(cè)方法的選取16-23
• 2.1.1 激光三角法16-17
• 2.1.2 激光掃描法17-18
• 2.1.3 光學(xué)干涉法18-20
• 2.1.4 超聲波測(cè)厚法20-21
• 2.1.5 平板電容檢測(cè)法21-22
• 2.1.6 光學(xué)共焦法22-23
• 2.2 共焦法的測(cè)量原理和檢測(cè)系統(tǒng)的構(gòu)成23-26
• 2.2.1 基于共焦法的單探頭測(cè)量原理23-24
• 2.2.2 基于共焦法的雙探頭測(cè)量原理24-26
• 2.2.3 檢測(cè)系統(tǒng)的組成結(jié)構(gòu)26
• 本章小結(jié)26-28
• 第三章共焦光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)28-36
• 3.1 光源的選擇28
• 3.2 光譜儀的選擇28-29
• 3.3 共焦光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)29-35
• 3.3.1 初始結(jié)構(gòu)的確定29-30
• 3.3.2 光學(xué)系統(tǒng)的優(yōu)化30-35
• 本章小結(jié)35-36
• 第四章測(cè)量裝置厚度模型的建立36-45
• 4.1 MATLAB軟件的數(shù)學(xué)功能36
• 4.2 厚度影響因素分析36-42
• 4.2.1 透鏡中心厚度和返回的波長(zhǎng)差37-38
• 4.2.2 透鏡中心厚度和曲率半徑38-40
• 4.2.3 透鏡中心厚度和透鏡折射率40-42
• 4.3 透鏡中心厚度的厚度模型42-43
• 本章小結(jié)43-45
• 第五章 實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果和誤差分析45-55
• 5.1 實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果45-48
• 5.2 誤差來(lái)源分析48-54
• 5.2.1 常規(guī)誤差分析48
• 5.2.2 單探頭裝置測(cè)量誤差分析48-52
• 5.2.3 雙探頭裝置測(cè)量誤差分析52-54
• 本章小結(jié)54-55
• 第六章 總結(jié)與展望55-57
• 6.1 本文的主要研究工作55
• 6.2 研究工作的創(chuàng)新點(diǎn)55-56
• 6.3 對(duì)今后工作的展望56-57
• 致謝57-58
• 參考文獻(xiàn)58-62
• 攻讀碩士期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文與發(fā)明專利62

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本文編號(hào)：1040042